技術資料『JIS規格「分銅」と製造工程の紹介』

PRJIS分銅の製造から市場供給までの流れをご紹介。JIS規格の概要も解説

当社は、質量計測を主軸とし、天びん・分銅の製造や校正サービスを手掛けています。 100年以上にわたって蓄積したノウハウを元に、高度な技術が求められる 機械式はかりの組立や、1μgレベルの高精度な質量調整・校正が可能です。 本資料では、分銅の信頼性を担保する「JISマーク付き分銅」について紹介。 精度等級や特性評価基準などのほか、製造・検査工程などを紹介しています。 【掲載内容(一...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社村上衡器製作所

環境モニタリング用スタンプ培地『γ線照射3重包装』

PR三極薬局方に準拠した製品を国内自社工場より、新鮮な生培地をお届けします…

～５つのこだわり～ ・安心してご使用頂くために Made in Japanにこだわりました！ ・ロック式シャーレで二次汚染を防ぐことにこだわりました！ ・長期間の常温での保存を可能にし、利便性にこだわりました！ ・偽陰性リスクを低減させ、確実な捕集にこだわりました！ ・作業効率を向上させるため、使い易さにもこだわりました！ ...1. 安心してご使用頂くために Made in Japa...

メーカー・取り扱い企業： 日本ベクトン・ディッキンソン株式会社 微生物検査製品

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

コンパクトで無人運転が可能な新世代のSEMです。

ご使用いただけます。 ○特長 ・試料を入れて、迷わず観察 "試料交換ナビ" ・光学像を拡大すれば、SEM像 "Zeromag" ・観察中も常に元素分析 "Live Analysis" ・多彩な自動測定 "Simple SEM" ・自動測定を強力に支える機能 ・分析をよりスピーディーに ・60 mm2 大口径EDSを標準搭載 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： アズサイエンス株式会社 松本本社

【半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御

弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提…

【表面検査】 ◆原子間力走査型電子顕微鏡（AFM&SEM in situ測定） by Quantum Design North America ◇原子間力顕微鏡（AFM） by Nanosurf ◆散乱型近接場光赤外顕微鏡（Nano-FTIR） by attocube ...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

JSM-IT800 電界放出形走査電子顕微鏡

今まで得られなかった情報の取得やお困りの測定への改善が期待できます。

日本電子株式会社 JSM-IT800 電界放出形走査電子顕微鏡は、高分解能観察を実現するための "インレンズショットキーPlus電界放出形電子銃" と次世代型電子光学制御システム "Neo Engine"、高速度元素マッピングを実現するために追求したGUI "SEM Center" に自社製EDSを組込んだシステムを共通のプラットフォームとしています。 SEMの対物レンズをモジュールとして置き換え...

メーカー・取り扱い企業： アズサイエンス株式会社 松本本社

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

・最大6インチまで装置に搬入可能（装置による） ・SEMにオプションを組み合わせることにより、様々な情報を得ることが可能 　EDX検出器による元素分析が可能 　電子線誘起電流（EBIC）を測定し、半導体の接合位置・形状を評価 　電子後方散乱回折（EBSD)法により、結晶情報を取得可能 　FIB加工とSEM観察の繰り返しにより、立体的な構造情報を取得可能（Slice & View） ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

見えるから、追求したい

リーズの4世代のモデルです。自動機能を拡充させた操作性と新しい検出器系を兼ね備えた観察性能の向上させました。 ○特長 ・光学像と連動してSEM像が見える ・高分解能電子銃により、よく見える ・自動測定機能: Simple SEM/EDS ・その場で3D像を構築: Live 3D ・新しい低真空二次電子検出器LHSED ・ショットキーFE電子銃の安定性を従来比 4倍以上に強化 ※詳細はPDFをご...

メーカー・取り扱い企業： アズサイエンス株式会社 松本本社