• 【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価 製品画像

    【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価

    急冷凍+SEM観察により、粒子が分散している様子を画像で確認! ★第…

    液体に分散させて用いる微粒子の粒径・構造を評価する際、液体を乾燥させて粉体として微粒子を取り出し、電子顕微鏡を用いての測定が一般によく行われています。 しかしながら、乾燥による分散状態の変化や粒子の変形が起こるため、どのように分散しているのかを調べるには不向きな測定法です。 MSTでは、液体試料内で微粒子がどのように分散しているかを直接評価するため、クライオ加工+SEM分析(クライオSEM...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • よくあるご質問(FAQ) サンプルについて 製品画像

    よくあるご質問(FAQ) サンプルについて

    サンプルについて、よくお問い合わせいただくご質問を、FAQ形式でまとめ…

    ご不明な点は何なりとお問い合わせください。...◆サンプルは返却してもらえますか? →基本的に全て返却いたします。加工を施したサンプルについては一部返却できないものがあります。 ◆サンプルはどこに送ればよいですか? →担当宛にお送りください。担当が不明の場合にはサンプル受付係宛てにお送りください。 〒157-0067 東京都世田谷区喜多見1-18-6 ◆サンプルを取りに来てもらう...

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  • 【分析事例】酸化物ReRAM動作領域の元素分布評価 製品画像

    【分析事例】酸化物ReRAM動作領域の元素分布評価

    酸化物デバイスにおける局所元素分布を酸素同位体を用いて高感度に評価

    酸化物ReRAMでは、電場印加に伴う酸素拡散がメモリ動作(抵抗変化)と関連しているとされていました。 SIMS分析では同位体を測定可能であるため、同位体18Oイオン注入技術を利用すれば、酸素拡散の追跡が可能となります。18Oを局所的に注入した素子に対し、電場印加により動作領域となるブリッジ構造を形成し、元素マッピングを行った結果、ブリッジ部では18Oの強度が弱く、局所的に還元されていることが分か...

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  • 【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始 製品画像

    【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始

    有機成分を壊さず深さ方向分析が可能になりました! 従来より空間分解能…

    有機ELディスプレイは近年、画質の高精細化のために配列が祖が微細化されていく傾向が見られています。 MSTでは、有機ELの開発において必須となる有機EL層の膜構造を精度よく評価可能な新サービスを開始しました。...有機ELの小さな画素など狭い領域を狙って測定を行う場合、従来のTOF-SIMS測定では深さ方向の評価が困難でした。 MSTでは測定条件を改良することで、有機成分を壊さず狭い領域の分析...

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  • 【分析事例】マイクロサンプリング法 製品画像

    【分析事例】マイクロサンプリング法

    FIB:集束イオンビーム加工

    試料から直接小片を取り出し(マイクロサンプリング)、FIB加工を行うことができます。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定 製品画像

    【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定

    ミクロンからセンチオーダーの異物・汚れをイメージとして捉えます

    液晶パネルの量産化において、欠陥(異物・汚れ)を除去することが求められています。そこで、原因となる異物・汚れが何に起因するか調査することは、歩留まり向上に有効です。 液晶パネルの異物・汚れを評価した事例を紹介します。TOF-SIMSではμm~cmオーダーの洗浄残渣をイメージとして捉えることが可能です。また、標準スペクトルとの比較により、成分の推定が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧くだ...

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  • 【分析事例】SEM装置での歪み評価 製品画像

    【分析事例】SEM装置での歪み評価

    EBSD:電子後方散乱回折法

    TEM(NBD:Nano Beam Diffraction)のような薄片化加工を行うことなく、バルク状態での測定が可能です。 SEM特有の高い空間分解能を持ち、比較的高い歪み感度を持っています。 また、局所的な格子歪みをテンソルデータとして検出できる可能性があります。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • PV(太陽電池)各種評価事例集 製品画像

    PV(太陽電池)各種評価事例集

    太陽電池(PV)の組成評価や同定・膜圧評価・形状評価・結晶構造評価など…

    PV EXPO2013(国際太陽電池展)展示会にご来場いただけなかった方、MSTブースにお立ち寄りいただけなかった方、もう一度MSTの展示会資料をご覧になりたい方、ぜひご覧ください。 太陽電池の研究・開発・製造に必要な部品・材料、装置、セル・モジュールが一堂に出展する展示会『PV EXPO 2013』で使用したパネル資料全6枚のご紹介です。 [掲載内容] 有機薄膜太陽電池の活性層の...

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  • サンプルの送り方 製品画像

    サンプルの送り方

    分析を行うサンプルをMSTにお送りいただく際の送り方をまとめました。

    ご不明な点はお気軽にお問い合わせください。...◆ウェハ ・元素分析 枚葉ケース・FOSB・チップケースなどでお送りください。 ・有機汚染評価 できれば、同一試料を2枚ご用意いただき、測定面同士を合わせて、アルミホイル艶消し面で、二重に包んでください。 ◆微小片サンプル ピンセットでの取り扱いに注意を要する微小片サンプルはサンプルを外側から確認できる透明なチャック袋などでお送り...

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  • ご依頼からの流れ 製品画像

    ご依頼からの流れ

    ご依頼から納品までの流れをまとめました。

    まずはお気軽にお問い合わせください!...◆お問い合わせ まずはお問い合わせください。 info@mst.or.jp または 電話03-3749-2525まで、お気軽にどうぞ。 ↓ ◆お打ち合わせ・お見積もり MST営業担当があなたの元へお伺いして打ち合わせ後、お見積書を発行します。 ↓ ◆サンプル受け渡し 分析する材料・製品は、お打ち合わせ時に直接お預かり可能です...

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  • 【分析事例】Cu表面の酸化状態の定量 製品画像

    【分析事例】Cu表面の酸化状態の定量

    Cuスペクトルの複合解析

    Cu2p3/2スペクトルとCuオージェスペクトル等の解析から、Cu表面の結合状態・定量評価・膜厚評価が可能です。 主な応用例として、Cu配線のCMP処理・洗浄の評価、Cu電極の錆・変色調査が挙げられます。 以下、各種処理を施したCu表面状態および酸化膜厚についてまとめます。 (クリーンルーム環境下にて処理し、直後に測定を行うことが可能です。)...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 『科学技術計算のためのPython~確率・統計・機械学習~』 製品画像

    科学技術計算のためのPython~確率・統計・機械学習~』

    科学技術計算のためのPython~確率・統計・機械学習~」書籍のご案…

    エヌ・ティー・エスは、理工系専門書を出版しております。 書籍『科学技術計算のためのPython~確率・統計・機械学習~』のご案内です。 書籍は当社ホームページより直接注文することができます。 【概要】 ■Pythonの科学技術計算ツールを使い倒そう!(...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エヌ・ティー・エス

  • クライオ加工 製品画像

    クライオ加工

    やわらかいサンプルを冷却、硬化させ切削可能に

    特徴 ・柔らかいサンプルを冷却することで硬化して切削可能 ・液体窒素付近の温度まで冷却することが可能 ・サンプル・雰囲気・ミクロトーム刃の温度はそれぞれ独立して設定可能 ・主に常温では柔らかい材料(生体試料・高分子材料など)の加工に有効で、ゲル状材料なども冷却することにより加工できる場合がある...室温では柔らかくて切削できない有機・高分子材料サンプルやゲル状の材料も冷却して硬化させること...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 世界の生命科学器具市場調査レポート(2023~2028) 製品画像

    世界の生命科学器具市場調査レポート(2023~2028)

    生命科学器具の世界市場(2023~2028):器具、消耗品、サービス

    Mordor Intelligence社の調査レポートでは、グローバルにおける生命科学器具市場規模が、予測期間中、CAGR 7.5%で増大すると予測されています。本レポートでは、生命科学器具の世界市場を広く調査・分析し、イントロダクション、調査手法、エグゼクティブサマリー、市場動向、種類別分析(器具、消耗品、サービス)、技術別分析(PCR・qPCR、サンガーシーケンス、フローサイトメトリー、核酸マ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マーケットリサーチセンター

  • EBSD分析(電子後方散乱回折法) 製品画像

    EBSD分析(電子後方散乱回折法)

    容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

    EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP:Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶粒径観察が可能 ・双晶粒界(対応粒界)観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ・...

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