• 微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM) 製品画像

    微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

    主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)】 ○高速電子線を薄く加工された試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 電子顕微鏡観察用試薬『NanoSuit(R)溶液』 製品画像

    電子顕微鏡観察用試薬『NanoSuit(R)溶液』

    試料に1滴かけるだけでそのまま電顕へ!被膜は導電性で電顕観察時チャージ…

    『NanoSuit(R)溶液』は、生体試料のありのままの形状を簡単に観察できる 電子顕微鏡観察用試薬です。 試料に含まれる水分を保持して、電顕観察中の真空下における乾燥・変形を防止。 試料表面にナノメートルオーダーの被膜が形成され水分の蒸散が抑制され、 試料形状が保たれます。 【こんな観察対象に】 ■Type I:微小生物・個体・生体組織用 ■Type II:病理検体・C...

    メーカー・取り扱い企業: 日新EM株式会社

  • ハイスピード冷間埋込樹脂『テクノビット』(独Kulzer社製) 製品画像

    ハイスピード冷間埋込樹脂『テクノビット』(独Kulzer社製)

    低コスト。取扱いも簡単。短時間に多数の試料の樹脂埋め込みが可能な包埋樹…

    〈製品特長〉 下記のケースの樹脂埋込みに特にお薦めです 1)高温・高圧にさらしたくない物 2)早く包埋し試験する必要がある物(生産中の品質管理等) 3)特異な形状物 4)包埋試料が硬化ストレスで割れやすい物 〈ラインナップ〉 ●テクノビット4000 重合時の収縮が小さく耐磨耗性の大きなポリエステル系樹脂。乳白色・不透明。 密着性が良く(加圧器“テクノマットMR-1000”の使...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マルトー 本社

  • 電子顕微鏡での受託観察 製品画像

    電子顕微鏡での受託観察

    走査型電子顕微鏡(FE-SEM)による表面観察を受託いたします:分解能…

    ■試料をお送り頂きますと、試料台作成~画像撮影~画像ファイル(jpeg)変換を行い、お送り致します。 ■格安料金を設定しておりますので、ぜひご利用下さい。 ...【主要設備】 ・設備(機械名):走査型電子顕微鏡(FE-SEM) S-4000(日立) ・主な仕様  倍率: ×100~300,000倍 (~100,000までは保証範囲)  試料台サイズ: 15mm(径)  加速電圧:...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社魁半導体

  • 【書籍】ナノ粒子塗工液の調整(No.1998BOD) 製品画像

    【書籍】ナノ粒子塗工液の調整(No.1998BOD)

    【技術専門図書】★光学薄膜、熱特性向上、導電性制御、ハードコート、親水…

    書籍名:ナノ粒子塗工液の調整とコーティング技術 -------------------------- ★光学薄膜、熱特性向上、導電性制御、ハードコート、親水・撥水制御、光触媒 ★付着・凝集性が著しく高いナノ粒子を分散させ、塗工液にする手法を詳説 -------------------------- ■ 本書のポイント ★ナノ粒子分散で押さえておきたいポイント ・微...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社技術情報協会

  • 極低加速電圧SEMを活用した医薬品の可視化 製品画像

    極低加速電圧SEMを活用した医薬品の可視化

    最先端の電子顕微鏡観察手法を駆使し、医薬分野のお客様のニーズにお応えし…

    試料の極表面や断面をナノオーダーで電子顕微鏡観察・分析するには、加工によるダメージや汚染のない試料作製技術が不可欠です。 当社は、これまでに培った試料作製技術により最適な方法で試料加工した上で、極低加速電圧走査電子顕微鏡(ULV-SEM)や収差補正走査透過電子顕微鏡(Cs-STEM)による最先端の観察・分析データをご提供いたします。...極低加速電圧SEM装置と特徴 <装置> ZEISS社製...

    メーカー・取り扱い企業: JFEテクノリサーチ株式会社

  • 【分析事例】ZnO膜表面の形状観察 製品画像

    【分析事例】ZnO膜表面の形状観察

    広域の表面形状観察が可能

    走査型白色干渉計(光干渉計)は、試料の表面形状を「高い垂直(Z)分解能(0.1nm)と広い(X-Y)測定視野(50μm~4.2mm)」で高精度に、非接触3次元測定を行うことが可能です。4.2mm×4.2mmの視野まで測定可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】極低加速電圧条件での微細構造観察 製品画像

    【分析事例】極低加速電圧条件での微細構造観察

    極低加速SEM観察によるセパレータ構造評価

    リチウムイオン二次電池に使われているセパレータに代表されるように、材料の多孔性や形状といった微細構造は製品の特性や機能を左右します。材料が樹脂やポリプロピレン(PP)など軟化点が低い場合、観察時の電子線照射により試料が損傷を受け、本来の構造が変化してしまうことがあります。 加速電圧0.1kVという極低加速SEM観察により、変質を抑えて試料最表面の形状を詳細に評価した事例をご紹介します。...詳し...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術情報誌 202201-01 X線CTを用いた微小液滴 製品画像

    技術情報誌 202201-01 X線CTを用いた微小液滴

    X線顕微鏡は、試料の内部構造をµmオーダーの高空間分解能で非破壊観察で…

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 X線顕微鏡は、試料の内部構造をµmオーダーの高空間分解能で非破壊観察できる装置であり、CT(コンピュータートモグラフィ)測定することで三次元形態の観察も可能である。特に電子顕微鏡では困難な、液体と材料の接触状態や、空孔を有する材料内部における液体の存在状態などの評価...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • [IP法]Arイオン研磨加工 製品画像

    [IP法]Arイオン研磨加工

    IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

    IP法は、エネルギー及び方向を揃えたイオンビームを試料に照射したときに試料表面から試料原子が弾き飛ばされるスパッタリング現象を利用して、試料表面を削り取る方法です。 イオン種は通常試料との化学反応の心配のない希ガス(MSTではAr)が用いられます。加工面のAES分析では遮光板成分(Ni,P)は検出下限以下でした。...カードエッジコネクタについてIP加工後、反射電子像観察を行いました。 IP法...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 超小型金属顕微鏡『N.O.W.-K III型(正立型)』 製品画像

    超小型金属顕微鏡『N.O.W.-K III型(正立型)』

    大型検体(部品)や移動困難な検体(部品)の表面観察に好適な、超小型金属…

    N.O.W.-K III型(正立型)』は、観察平面上に顕微鏡本体を 置くことによってその平面の観察を行います。 卓上型金属顕微鏡では不可能な大型検体(部品)や、移動困難な 検体(部品)の表面観察が可能。 その他、観察しにくい小部品の対象物を観察するのに適した 「N.O.W.-K IV型(倒立型)」や「NSM-M型」もご用意しています。 【特長】 ■観察平面上に顕微鏡本体を...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社日本光器製作所 ショールーム・営業部

  • 顕微鏡用ガラス/金属ヒーター ThermoPlate 製品画像

    顕微鏡用ガラス/金属ヒーター ThermoPlate

    顕微鏡観察時の温度管理を、より正確に、より確実に行えます!

    ThermoPlate(サーモプレート)は、顕微鏡観察時の温度管理がより正確に、より確実に行える製品です。生物系、工業系など様々な分野における温度管理のあらゆるニーズにお応えし、豊富なラインナップでサポートいたします。 温度制御部は理想的な温度制御を実現するPID制御を標準で採用しているため、立ち上がりが速く、外乱に対する安定性も高くなっています。測温部はセンサーを透明発熱体表面の適所に設置する...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東海ヒット

  • 大型設備(6000mm カールツァイス製) 高精度を保証する測定 製品画像

    大型設備(6000mm カールツァイス製) 高精度を保証する測定

    大型三次元測定器 3000x6000x2000mm(カールツァイス製)…

    超高精度を実現するために必要不可欠である各種測定器は、加工機以上に多彩な設備を備えお客様に絶対的な安心を保障します。 【保持設備(一部)】 ○三次元測定機 ・カール・ツァイス三次元測定機MMZ-G30/60/20 (測定範囲:3000×6000×2000mm) ・三次元測定機7台を有する測定部門あり →高精度加工品はお客様より絶大な信頼 ○超高精度三次元測定機 UA3P-4...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クリスタル光学

  • [SEM]走査電子顕微鏡法 製品画像

    [SEM]走査電子顕微鏡法

    高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

    SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子(Secondary Electron;SE)像、反射電子(BackScattered Electron;BSE)像、透過電子(Transmitted Electron;TE)像の観察が可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価 製品画像

    【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価

    Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です

    パワーデバイス・光デバイスとして実用化されているGaNは六方晶ウルツ鉱構造をとり、c軸方向に結晶学的な非対称性(Ga極性とN極性)が存在します。Ga極性とN極性ではエピタキシャル膜の成長プロセスが異なるほか、結晶の表面物性・化学反応性も異なります。 本資料では、GaNの極性を環状明視野(ABF)-STEM観察により評価しました。その結果、Gaサイト・Nサイトの位置を特定することができ、視覚的にG...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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