• 『多変量統計解析トレーニングセミナー』11月28日・29日開催 製品画像

    『多変量統計解析トレーニングセミナー』11月28日・29日開催

    PR多変量解析の基礎・原理が良くわかる。実データを用いた解析も行う実践的な…

    2024年11月28日・29日に、当社主催のセミナー 『多変量統計解析トレーニングコース<レベル1> 理論と実践』 を開催いたします。 本コースでは、複雑なデータの関係性を速やかに解釈し、 産業界、研究界で希求される最新の多変量解析技術を どのように業務応用できるかを集中的に学べます。 多変量統計解析、スペクトル解析、知覚・官能データの解析、PAT/QbDなどを テーマに解説する、数学的説明は...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオリテイデザイン

  • プローブに原子を採用した表面分析装置(CAICISSの発展版) 製品画像

    プローブに原子を採用した表面分析装置(CAICISSの発展版)

    結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

    オン散乱分光法(CAICISS)を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いている為、絶縁体でも帯電の影響がなく安定した表面分析が可能です。 結晶表面構造解析では、入射角の全方位スキャンの実施により結晶表面に固有のパターンが得られ、表面構造の判定を視覚的に容易に行うことができます。 【特長】 ■結晶方位や対称性あるいは極性結晶の表裏などが視覚化さ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • 表面分析機器『TOFLAS-3000』 製品画像

    表面分析機器『TOFLAS-3000』

    電気的に中性な原子ビームを採用!帯電の問題を解決した表面分析機器

    入射プローブとしてイオンではなく電気的に中性な 原子ビームを用いた飛行時間型原子散乱表面分析装置です。 本製品を使用することにより、半導体,金属のみならず絶縁体表面の 組成および原子配列の解析も可能です。 また、帯電(チャージアップ)の問題も解決します。 【特長】 ■金属、半導体はもとより絶縁体の表面分析にも威力を発揮 ■試料表面の元素の同定が可能 ■表面下数層の原子構造解...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • 真空薄膜形成装置や表面分析装置 長年培った真空技術がこの一冊に! 製品画像

    真空薄膜形成装置や表面分析装置 長年培った真空技術がこの一冊に!

    長年培った真空技術!真空機器関連及び理化学機器における製品ラインアップ…

    術と商品ニーズを先取りし、 ユーザー様の役に立つ製品を提供し続けている、株式会社パスカルの 総合カタログです。 従来のイオン散乱表面分析装置では不可能だった、絶縁体表面の極性判別や 構造解析、元素同定、さらに電場・磁場中での【その場分析】を可能にした 飛行時間型原子散乱表面分析装置「TOFLAS-3000」をはじめ、 「真空薄膜形成装置」や「表面分析装置」などをラインアップしていま...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • 飛行時間型原子散乱表面分析装置『TOFLAS-3000』 製品画像

    飛行時間型原子散乱表面分析装置『TOFLAS-3000』

    結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

    オン散乱分光法(CAICISS)を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いている為、絶縁体でも帯電の影響がなく安定した表面分析が可能です。 結晶表面構造解析では、入射角の全方位スキャンの実施により結晶表面に固有のパターンが得られ、表面構造の判定を視覚的に容易に行うことができます。 【特長】 ■結晶方位や対称性あるいは極性結晶の表裏などが視覚化さ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

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