アタッチ式顕微ラマンセンサー『Raman EYEシリーズ』

PR世界最小クラスの顕微ラマンセンサー。小型化と最適化設計で低価格も実現。…

『Raman EYEシリーズ』は、W120×D95×H50mm（一部モデルを除く）の 世界最小クラスのサイズを誇るアタッチ式顕微ラマンセンサーです。 アタッチ式を採用しており、既存の顕微鏡に約1分で簡単に装着でき、 専用装置を導入することなくラマン分光による高感度測定を開始できます。 また、小型化と最適化設計により低価格での提供を実現している点も特長です。 【特長】 ■世界...

メーカー・取り扱い企業： メタセンシング株式会社

＼無料プレゼント！／食物アレルギー（アレルゲン）検査 基礎知識集

PR食物アレルゲン表示制度や消費者庁通知法の概要をわかりやすくまとめた一冊…

万が一、食物アレルゲンが適切に表示されていなかったら、その表示を信用した食物アレルギー患者がアレルギー症状を起こし、重篤なケースでは命の危険につながることがあります。 このような事故を未然に防止するためには、食物アレルゲンの表示制度や検査方法に関して正確な理解と、それに基づいた適切な表示を行うことが非常に重要です。 当社では、食物アレルゲン表示に関する情報を独自にまとめた「≪まずはここから...

メーカー・取り扱い企業： ビジョンバイオ株式会社

【分析事例】SiC中ドーパント元素の深さ方向分析2

目的に応じた分析条件で測定します

市販品SiCパワーMOS FETのドーパント元素であるN,Al,Pの深さ方向濃度分布を複数の分析モードで評価した事例を紹介します。 分析目的によってはそれぞれの元素を最適な条件で別々に測定せず、複数の元素を同時に測定することが可能です。多元素同時測定した場合と、それぞれの元素に着目した条件で測定した場合...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】クロスハッチパターンの形状観察

高い垂直方向分解能で小さな凹凸を可視化可能

測定視野(50μm～4.2mm)」で、高精度に非接触3次元測定を行うことが可能です。Si/SiGe積層試料表面（クロスハッチパターン）の形状観察の事例を紹介します。 平均粗さ(Ra)～1nmの形状評価可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiC Planer Power MOSのSCM分析

SiC デバイスの拡散層構造を可視化できます

SCMでは半導体のp/n極性を識別し、拡散層の形状を可視化することができます。 本手法はSiデバイスに活用されてきましたが、SiCデバイスにおいてもキャリア濃度が十分高い箇所では評価を行うことができます。 本資料では、SiC Planer Power MOSの断面を製作し、SCM分析を行った結果をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】塗料と基材界面の状態観察

試料冷却により塗料の基材への塗布状態を評価

塗料は、対象材料の表面に塗布することにより、着色する・保護する・機能を付与するなど、様々な目的で用いられています。いずれの場合も、対象材料に塗料を付着不良なく塗布することが求められます。 本資料では、ステンレスと有機フィルムの２種類の基材上に導電性塗料を塗布し、クライオSEMにより塗料と基材界面の状態を観察しました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】CIGS薄膜太陽電池へテロ接合界面の観察

超高分解能STEMによるCdS/CIGS接合界面高抵抗層の結晶構造評価

Csコレクタ付STEM装置を用いてCdS/CIGSヘテロ接合界面を直接観察しました。 TEM像・高分解能HAADF-STEM像および第一原理計算を用いたシミュレーションから、CIGSとCdSがヘテロエピタキシャル接合している様子が確認されました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

OEM／ODM・開発事業

企画～設計～製造のワンストップサービスで、どの切り口からでもご対応いた…

イコン周辺回路、高周波回路等 2)組込みマイコンソフトウェア開発 　システム制御、メモリ制御、通信制御等 3)筐体設計 　パネル、シャーシ等 ■生産 1)大小ロット試作 2)信頼性評価試験 3)量産対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アレクソン

電子機器事業『検査機・試験機』

清栄コンピュータの電子機器事業「検査機・試験機」のご紹介

【その他のラインアップ】 ■TDDB評価装置SEC-10HT8 ■ゴルフボール選別機 ■フラインググローバー-SFP-2000 ※詳しくはお気軽にお問い合わせ下さい。 ...

メーカー・取り扱い企業： 清栄コンピュータ株式会社

【分析事例】ウエハ最表面の微量元素分析における前処理法

ICP-MS：誘導結合プラズマ質量分析法

金属汚染を併せた分析結果となり、最表面の金属汚染のみの分析には不向きでした。 MSTでは、前処理でSiO2膜を溶解せずに最表面に付着した金属元素のみを溶解することにより、ウエハ最表面の金属汚染元素評価が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較

着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です

（Scanning Electron Microscope：SEM）及び走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は、どちらも二次電子像を得ることで試料表面近傍の構造評価を行う手法です。一次プローブの違いによってコントラストの現れ方や空間分解能などの違いがあり、着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です。本資料では2手法の比較をまとめるとともに、測定例として...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST