CalibratARマイクロスケール 3D校正用リファレンス

AFMを校正するためのAFM/SPM校正基準と標準サンプル

CalibratAR校正用リファレンスは、多様な顕微鏡の評価や校正などの目的に使用できます。その適用範囲は、走査型プローブ顕微鏡、原子間力顕微鏡、電子顕微鏡、光学顕微鏡、さらにはスタイラスや光学プロファイラーなど多岐にわたります。３次元の評価のために、リファレンスのサンプルデザインには３つの直交方向の形状を組込んでいます。...

メーカー・取り扱い企業： オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

MFP-3D 原子間力顕微鏡用　サンプルマウント

MFP-3D AFM/SPMシステム対応の、多種多様なサンプルマウント

MFP-3D AFM/SPM システムで利用可能なサンプルマウントを各種取り揃えております。取り扱いも簡単。全てのマウントは１mm厚スライドガラスと同様に、MFP-3Dスキャナ上にフィットします。またMFP-3D AFM/SPMシステムに付属の磁石と一緒に使用できます。...【仕様】 ○電気コンタクトサンプルホルダ ○フィリップSEMマウントホルダ、12mm ○日本電子SEMマウントホルダ...

メーカー・取り扱い企業： オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社