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低加速SEM・計測用/解析用電子線源として使用可能!組込可能な小型電子…
(LEED(低速電子回折)、 AES(オージェ電子分光法)、EDS(エネルギー分散分光法)、 EELS(電子エネルギー損失分光法))等に応用できます。 超高真空対応のSPM(走査プローブ顕微鏡)等と組み合わせてお使いください。 【特長】 ■低加速・大電流密度 ■静電型採用の為、漏洩磁場が少ない ■超高真空対応(ベーキング温度<150℃) ■省スペースでの取付けが可能(取付...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ
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SEM用断面観察試料を簡単に作製!最小±2.5μmの位置精度でのけがき…
為の装置です。 加工プロセスは、モニターを見ながらけがき位置のティーチングし、自動でけがきを開始します。 観察部は自動スキップされ、けがきによる内部応力を利用して試料を破断します。 電子顕微鏡のサンプルホルダー等に挿入できるように試料を切り出します。 『AMCシリーズ』は、短時間で精度よく簡単に断面試料を作製することができます。 【特長】 ■最小±2.5μmの位置精度での...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ
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