【半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御

弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提…

弊社が得意としているナノオーダーの表面解析機器の他、 半導体プロセス向けのレジスト液、マスクレス露光装置、精密位置制御装置をご提案致します。...【表面検査】 ◆原子間力走査型電子顕微鏡（AFM&SEM in situ測定） by Quantum Design North America ◇原子間力顕微鏡（AFM） by Nanosurf ◆散乱型近接場光赤外顕微鏡（Nano-FTIR） ...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

粒子特性評価装置 LS Spectrometer

多重散乱の効果を低減！サンプルのまま測定することが可能な粒子特性評価装…

日本カンタム・デザインの『LS Spectrometer』は、 洗練された、SLSやDLSに基づく粒子特性評価装置です。 データに与える多重散乱の寄与を省くために、革新的な 3Dクロスコリレーション技術を採用しており、サンプルを希釈する 必要はありません。 サンプル本来の状態のまま、粒径や形状・構造因子、分子量、回転 および並進拡散係数を測定することができます。 【特長】...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社