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ポリマー関連向け研究開発のためのナノインデンテーション試験
ンサー: 超高分解能静電容量センサーにより、「真の押し込み深さ」と「荷重制御」モードが可能。 -超高分解能と超低ノイズフロア。 -高品質光学ビデオマイクロスコープやオプションの原子間力顕微鏡(AFM)により位置を完全に同期。 -オプションの加熱ステージにより200℃までの高温測定が可能。 ヘッドと、光学顕微鏡及びAFM対物レンズの組み合わせにより、高いフレキシビリティーと使い勝手の良...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アントンパール・ジャパン
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30nmから5μmの切片作製が可能!材料系解析事例を複数ご紹介した資料…
【受託分析】 ■表面分析:異物、変色、残渣、凹凸、破面 ・光学顕微鏡、SEM、EDX、AES、X線回折、AFMなど ■断面分析:組織、膜厚、拡散、酸化、表面変質 ・光学顕微鏡SEM、EDX、AES、TEM、STEM、EELSなど ※断面加工方法:切断、劈開、機械研磨、CP加工、FIB加工など ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所
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