コンパクトAFM『NaioAFM』※デモ受付中

表面形状の測定を短時間・簡潔に！防塵・防風用シールド、防振機構が標準搭…

『NaioAFM』は、表面形状の測定に必要な要素技術を標準搭載しつつ、 装置のセットアップやカンチレバー交換が簡単に行えるなど、 機能性と操作性を両立したコンパクトタイプの原子間力顕微鏡です。 スキャン...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

アクティブ防振台『IsoStage300』

Spike-Guardで測定効率とデータの質を向上！他社製AFMも利用…

AFMやSTMは、高感度であるがゆえにナノメートル以下の振動も ノイズとして拾ってしまいます。このような振動が問題となる測定には、 アクティブ防振台が必要となります。 『IsoStage300』は、装置へ伝わる振動をピエゾセンサで検知し、 6自由度(3軸)のアクチュエータで天板を駆動して動きをキャンセルして 制震するアクティブ防振台です。 低周波の振動を1Hzから低減することができ、...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

CIQTEK QDAFM Diamond III

CIQTEK 量子ダイヤモンド原子間力顕微鏡 Diamond III

CIQTEK QDAFM - Diamond III は、ダイヤモンドNVセンターとAFMのイメージング技術の両立による、磁気イメージング機器です。 ダイヤモンドプローブによる量子制御とスピンの検出により、サンプルの磁...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エルエイシステムズ

原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット！正確な原子間力顕微鏡をご紹…

『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000％向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅ...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…

粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングストロームの表面粗さ測定 ■真の非接触モードによるコスト削減 ■低ノイズZ検出器による正確なAFMトポグラフィー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社