超高分解能・高速スキャニングAFM/SPM　Cypher S

高精度なのに、操作は驚くほど簡単！材料科学やライフサイエンスの研究分野…

Cypher S AFM/SPM（原子間力顕微鏡）は、超高分解能・高速性能を発揮！ ACモードで真の原子分解能を達成しており、これは極めて低ノイズの測定が実現できることの証でもあります。クローズドループ原子分解能 は、...

メーカー・取り扱い企業： オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

環境制御機能搭載・超高性能AFM/SPM　Cypher ES

抜群の性能を誇る Cypher S にフル装備の環境制御機能を拡張追加…

アサイラム・リサーチの Cypher ES AFM/SPM（原子間力顕微鏡） は、抜群の性能を誇る Cypher S のプラットフォームにフル装備の環境制御機能を拡張追加したモデルです。Cypher S と同じ高分解能、スピードそして安定性を持ち...

メーカー・取り扱い企業： オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

高分子用AFM/SPM　Cypher ES ポリマーエディション

高分子材料研究に最適な測定モードやオプションを標準装備！超高性能環境制…

Cypher ES ポリマーエディションは、アサイラム・リサーチの超高性能 AFMに洗練された環境制御をプラスしたCypher ESがベースとなっており、ポリマー材料研究や高分子キャラクタリゼーションに最適な測定モードやオプション（下の”基本情報”参照）があらかじめ標準装備され...

メーカー・取り扱い企業： オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

カスタム原子間力顕微鏡(AFM)システム

お客様のご要望に合わせたカスタマイズAFMシステムを設計・構築します！

AFM測定を行う必要があるが、サンプルが大きく特別な取り扱いが必要だったり、従来の技術や方法とは異なる実験が必要ではありませんか？ 私たちはお客様のニーズを真摯に受け止め、お客様と一緒に解決策を考えます。 弊社 日本カンタム・デザインではメーカーであるNanosurf社（スイス）の装置開発チームとの密な連携により、お客様のご要望に合わせたシステムを設計・構築します。 表面測定に関するお困り...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

CIQTEK QDAFM Diamond III

CIQTEK 量子ダイヤモンド原子間力顕微鏡 Diamond III

CIQTEK QDAFM - Diamond III は、ダイヤモンドNVセンターとAFMのイメージング技術の両立による、磁気イメージング機器です。 ダイヤモンドプローブによる量子制御とスピンの検出により、サンプルの磁...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エルエイシステムズ

「熱硬化樹脂のインデンテーション試験による粘弾性測定」

各種熱硬化樹脂向けの測定 粘弾性、硬さ、弾性率の評価

ンサー: 超高分解能静電容量センサーにより、「真の押し込み深さ」と「荷重制御」モードが可能。 -超高分解能と超低ノイズフロア。 -高品質光学ビデオマイクロスコープやオプションの原子間力顕微鏡(AFM)により位置を完全に同期。 -オプションの加熱ステージにより200℃までの高温測定が可能。 ヘッドと、光学顕微鏡及びAFM対物レンズの組み合わせにより、高いフレキシビリティーと使い勝手の良...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アントンパール・ジャパン

ナノインデンター『IND-1000』

圧痕を直接観察することも可能！硬度、弾性率、耐摩耗性、耐傷性などの測定…

『IND-1000』は、押し込み荷重と変位を測定し、薄膜、樹脂、金属などの 様々な物質の硬度や弾性率を測定するナノインデンターです。 AFMにナノインデンターのヘッドを搭載することで、圧痕を直接観察する ことも可能。 また、高精度顕微鏡による正確な自動位置調整ができ、変位測定、負荷力の リアルタイムフィードバックコントロール...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

ナノ表面粗さ・形状計測器『ナノセブン TN-A1』

ウエハーの検査に好適！サブナノレベル表面の粗さ・形状を計測します

。 レーザーによる非接触型計測のため、計測対象物と接触しません。 また、光ヘテロダイン干渉法による位相差計測を採用し、光の波長を 基準としているため高さ方向分解能0.1nmが可能となり、AFMと互換性の 取れる計測結果を実現しました。 【特長】 ■計測時間短縮 ■低価格設定 ■防振台不要 ■非接触計測 ■広範囲計測可能 ■簡単操作 ■高分解能 ※詳しくはPD...

メーカー・取り扱い企業： ツクモ工学株式会社 本社工場

コントローラー『SPMコントローラー』

高性能なのに低価格 どのような装置にも簡単接続

トローラーです。 高性能ロックインアンプを搭載しており、複数の装置に 同時に接続が可能です。 また、コンピューター制御によりオートメーションでの位置決めが可能で SNOM、STM、AFM、SECMなどのシステムに最適な製品です。 【特長】 ■フルデジタルdual-DSPコントロール ■オートメーションアプローチ機能 ■高性能ロックインアンプ内臓 ■他社製品にも接続可...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サイエンスラボラトリーズ

散乱型近接場光赤外顕微鏡「neaSCOPE」受託測定サービス

空間分解能 最高10nmのスケールで、AFM像、赤外光イメージング、赤…

日本カンタム・デザインでは、散乱型近接場赤外顕微鏡「neaSCOPE」を 用いた受託測定サービスを行っております。 【装置仕様】 ■測定可能波長：650cm^-1～2200mcm^-1 ■ナノFT-IRスペクトル測定 ■ブロードバンドレーザーによる白色光赤外光反射イメージング ■ハイパースペクトル赤外光反射/吸収イメージング ■ラインスキャン赤外吸収イメージング ※詳細情報...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

振動式自動研磨機『バイブロメット2』

最終仕上げ専用研磨機。12インチ研磨ボウルで大型試料にも対応

2は、電解研磨に必要な危険性の高い 薬品を用いず、試料作製中に発生するわずかな組織 変質を取り除き、材料本来の構造を解析面に露出 させることができます。 ■試料表面を歪ませる心配無し。AFMやEBSD解析に適した表面に仕上げる ■危険な薬品を使用しません ■研磨中の調整不要...

メーカー・取り扱い企業： ITWジャパンビューラー株式会社 ビューラービジネスユニット東京本社

ナノ表面粗さ・形状計測器　ナノセブン

簡単操作、非接触、迅速、高分解能、低価格のナノ表面粗さ、段差形状測定装…

縮でき、防振台不要でラインでの全数検査もできる。 広範囲の計測が可能で多点計測や大型試料にも適用可能。 ＜主な特長＞ １）低価格で計測時間の大幅短縮 ２）高分解能　高さ方向０．１ナノでAFMと互換性保持 ３）試料対象物への前処理や真空不要の簡単計測で防振台も不要 ４）広範囲計測可能 ５）光ヘテロダイン干渉計測で外部からの振動を相殺　等 ...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社シスコム（SysCom）