出張講座～分析技術セミナーを出張開催致します～

新入社員研修や技術者向け社内研修など、ご要望に応じて講師を派遣させてい…

R） X線光電子分光法（XPS/ESCA） 二次イオン質量分析法（D-SIMS 、TOF-SIMS） ラザフォード後方散乱分光法（RBS） 電子顕微鏡（TEM、SEM） 原子間力顕微鏡（AFM） 力学特性解析 ナノインデンテーション 高分子レオロジー クロマトグラフィー ガスクロマトグラフィー（GC） イオンクロマトグラフィー（IC） 無機元素分析（XRF、ICP-AES...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター