CalibratARマイクロスケール 3D校正用リファレンス

AFMを校正するためのAFM/SPM校正基準と標準サンプル

CalibratAR校正用リファレンスは、多様な顕微鏡の評価や校正などの目的に使用できます。その適用範囲は、走査型プローブ顕微鏡、原子間力顕微鏡、電子顕微鏡、光学顕微鏡、さらにはスタイラスや光学プロファイラーなど多岐にわたります。３次元の評価のために、リファレンスのサンプルデザインには３つの直交方向の形状を組込んでいます。...●その他機能や詳細についてはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

研究開発を強力サポート　「受託分析サービス」

お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

ほか ○振動分光 FT-IR　フーリエ変換赤外分光法 Raman　ラマン分光法 ○X線回折関連 XRD　X線回折法 SAXS　X線小角散乱法 XRR　X線反射率法 ○SPM関連 AFM　原子間力顕微鏡法 SCM　走査型静電容量顕微鏡法 SSRM　走査型広がり抵抗顕微鏡法 ○その他の測定法 白色干渉計測法 TG-DTA-MS,DSC　熱分析 EMS　エミッション顕微鏡...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

エアクッションメーカー『エアフィット』

もう、梱包資材の保管場所に悩まない。フィルムを膨らませて梱包材を簡単に…

【仕様】 ■品番：AFM10 ■本体色：グレー ■JANコード：4971660777082 ■外形寸法： 約405(W)×220(D)×270(H)mm ■質量：約4kg ■電源：AC100V、50/60Hz ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マブチ

ナノ表面粗さ・形状計測器『ナノセブン TN-A1』

ウエハーの検査に好適！サブナノレベル表面の粗さ・形状を計測します

。 レーザーによる非接触型計測のため、計測対象物と接触しません。 また、光ヘテロダイン干渉法による位相差計測を採用し、光の波長を 基準としているため高さ方向分解能0.1nmが可能となり、AFMと互換性の 取れる計測結果を実現しました。 【特長】 ■計測時間短縮 ■低価格設定 ■防振台不要 ■非接触計測 ■広範囲計測可能 ■簡単操作 ■高分解能 ※詳しくはPD...

メーカー・取り扱い企業： ツクモ工学株式会社 本社工場

ピエゾ/ステージ 「ピエゾ(圧電)素子ステージ」

クローズドループシステムであっても、インターチェンジャブルに使用できま…

コントローラー（アナログ） [特殊仕様ピエゾステージ] ○バイオトレー用Zステージ ○高速スキャナーL字型XYステージ ○マイクロメーター取り付け用ステージ ○ピンセット型ステージ ○AFM,SPM用ステージ高速ステージ ○高速・精密シャッター用スリット型ステージ ○ウエハー検査用ステージ [高共振点ピエゾアクチュエーター] ○小型高共振点アクチュエーター ●詳しくはお...

メーカー・取り扱い企業： オーテックス株式会社

金 /銀 / アルミ / ITO コート基板

金 /銀 / アルミ / ITO コート基板 (スライドガラス / …

表面プラズモン共鳴(SPR)、マイクロアレイ、バイオセンサー、ナノテクノロジー、神経生物学、自己会合単分子膜(SAM)、X線回折(XRD)、半導体等、多種多様な研究用途に原子間力顕微鏡(AFM)、走査型電子顕微鏡(SEM)、透過型電子顕微鏡(TEM)他電子顕微鏡全般でご使用ください。 スライドガラスのみならずシリコンウエハや雲母基板もございます。金(Au)/銀(Ag)/アルミ(A...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社和貴研究所 千葉県松戸市小金原7-10-25

【超微少荷重摩擦摩耗試験機】ナノトライボメータ(NTR３)

１Ｎ以下の低荷重での正確な摩擦係数・摩耗測定を実現

柔軟性のあるダブルビームカンチレバーと高分解能容量センサーを組み合わせることで、法線力及び接線力の両方について、直線性が極めて高い正確な測定が可能です。 ナノトライボメータは、原子間力顕微鏡(AFM)の高い分解能と、ピンオンディスクトライボメータの安定性、堅牢性、使いやすさを併せ持ちます。 ピンオンディスクシステムのアプリケーションを拡張することで、NTR３は数?Nの力と数百ミクロンの変位...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アントンパール・ジャパン

コントローラー『SPMコントローラー』

高性能なのに低価格 どのような装置にも簡単接続

トローラーです。 高性能ロックインアンプを搭載しており、複数の装置に 同時に接続が可能です。 また、コンピューター制御によりオートメーションでの位置決めが可能で SNOM、STM、AFM、SECMなどのシステムに最適な製品です。 【特長】 ■フルデジタルdual-DSPコントロール ■オートメーションアプローチ機能 ■高性能ロックインアンプ内臓 ■他社製品にも接続可...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サイエンスラボラトリーズ

原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…

粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングストロームの表面粗さ測定 ■真の非接触モードによるコスト削減 ■低ノイズZ検出器による正確なAFMトポグラフィー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

エンバイロ・ビジョン株式会社　会社案内/総合製品カタログ

マイクロナノバブル発生装置、散気装置、オゾン発生装置、計測機器等、水を…

ノズル」 →メンブレン微細気泡散気管「バイブフレックス」 　ディスク「ディスクフレックス」 →投込み散気管「ファインバブル」 →最新型表面曝気装置「ウォーターリックス」 ○ろ材 →AFM →アミテック ○酵素、微生物製剤 ○スタティックミキサー・ラインミキサー ○藻・ヌメリ防止装置「フレクシダル」 ○回転式革命型水処理装置「バイオ・スーパークリーン」 [計測機器]...

メーカー・取り扱い企業： エンバイロ・ビジョン株式会社

散乱型近接場光赤外顕微鏡「neaSCOPE」受託測定サービス

空間分解能 最高10nmのスケールで、AFM像、赤外光イメージング、赤…

日本カンタム・デザインでは、散乱型近接場赤外顕微鏡「neaSCOPE」を 用いた受託測定サービスを行っております。 【装置仕様】 ■測定可能波長：650cm^-1～2200mcm^-1 ■ナノFT-IRスペクトル測定 ■ブロードバンドレーザーによる白色光赤外光反射イメージング ■ハイパースペクトル赤外光反射/吸収イメージング ■ラインスキャン赤外吸収イメージング ※詳細情報...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

Au　金ナノ粒子

生物製剤やイメージングの用途向けに、コロイド状態の金ナノ粒子 / 粒径…

いイメージングシステムによって、容易に観測する事が出来ます。金ナノ粒子はプラズモニクス関連やバイオセンサー開発、免疫染色から、X線コントラストを高める化学物質やSEMやTEM、UV-VISカメラ、AFMに対する標準までの幅広い範囲の用途に使われております。これらの高品質な金ナノ粒子は、NN-LABSの優れた品質コントロール基準を満たした、優れた粒径分布、単分散、均一形態を実現しております。...

メーカー・取り扱い企業： オプトシリウス株式会社

【分析事例】ソフトコンタクトレンズの表面イメージング

水溶液中でAFM分析による表面性状の定量評価ができます

高分子には、環境によって形状変化する素材があります。試料本来の形状を観察するためには、実環境での測定が必要となります。 本資料では、生理食塩水中でのソフトコンタクトレンズ表面形状を可視化した事例をご紹介します。実環境に近い条件で測定することによって、試料本来の形状を保ったままの評価が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

振動式自動研磨機『バイブロメット2』

最終仕上げ専用研磨機。12インチ研磨ボウルで大型試料にも対応

2は、電解研磨に必要な危険性の高い 薬品を用いず、試料作製中に発生するわずかな組織 変質を取り除き、材料本来の構造を解析面に露出 させることができます。 ■試料表面を歪ませる心配無し。AFMやEBSD解析に適した表面に仕上げる ■危険な薬品を使用しません ■研磨中の調整不要...

メーカー・取り扱い企業： ITWジャパンビューラー株式会社 ビューラービジネスユニット東京本社

【分析事例】パワートランジスタ（DMOSFET）の拡散層評価

ゲート・ソース層・ボディ層の位置関係がわかります

市販パワートランジスタ(DMOSFET) について、ポリSi ゲートとn型ソース層およびp型ボディ層の形状・位置関係を調べました。 AFM像と重ねることでゲートとの位置関係も知ることができます。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST