• バックターン洗浄機 自動戻りシステム搭載! 製品画像

    バックターン洗浄機 自動戻りシステム搭載!

    PR洗浄後にワークが自動的に戻ってくるため、一人での作業を実現!移動範囲も…

    バックターン洗浄機は、洗浄出口からワークの自重でコンベヤに落下し戻ってくる方式で、複雑な制御装置が要らず一人作業で、コスト削減が見込める洗浄システムとなっております。 掲載画像寸法:1,350(H)×1,813(W)×4,800(L)mm。 ※コンベヤー部も含めた寸法です。 ※お客様の仕様により寸法は変わります。 ※乾燥機を装備する事も可能です。 【特長】 ■一人作業でコスト削...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ヒタカ精機

  • ディスクチッピング検査装置 DSiS-2015 製品画像

    ディスクチッピング検査装置 DSiS-2015

    ガラス基板、メディア表面、エッジ部のチッピング、汚れ等を、高速・高精度…

    CCDカメラで取り込んだ画像解析により、ガラス基板、メディアの表面、エッジ部のチッピング、汚れ等を、高速・高精度に検出する量産ライン検査装置です。 合否判定に基づいたディスクの自動振り分け、検査結果は上位システムに通信し管理することが可能。 ・スループット ~800PPH(検査条件による) ・フットプリント   本体:   (W) 1380 × (D) 1700 ×(H) 2100 mm...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装

  • レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置 製品画像

    レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置

    レビュー用顕微鏡搭載!検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です

    高出力レーザーを回転ステージ上のウェハに照射することで、 高速に全面を検査し、微小欠陥を検出します。 散乱、反射、位相シフトなど複数チャンネルの組合せによって 用途に適した欠陥検出ができ、凹凸など欠陥種ごとに弁別します。 ■装置の特長 ・高速検査(約181秒/12inch) ・レビュー用顕微鏡を搭載 ・顕微鏡はレーザー顕微鏡/微分干渉顕微鏡のどちらか選択可能 ・SEM等での分析用に顕微鏡を利用し...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装

  • ウェハ表面欠陥検査装置(画像式) 製品画像

    ウェハ表面欠陥検査装置(画像式)

    透明素材にも対応する高精度検査装置

    微分干渉顕微鏡を搭載した表面欠陥検査装置で 透明体材料にも適用しております。 全面検査による欠陥マップ出力や検出した欠陥の 顕微鏡観察が可能な装置です。 ■装置の特長 ・独自の画像処理技術による欠陥抽出・弁別機能 ・欠陥を観察しながら高精度なケガキが可能 ・他装置で検査したウェハに対し、欠陥座標を元に  観察、欠陥アルバムの作成が可能。 ・結晶欠陥の検出機能を開発中...【検出】 方   式: ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装

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