• 薄層クロマトグラフィー『TLCプレート』 製品画像

    薄層クロマトグラフィー『TLCプレート』

    各用途によって使い分けが可能 薄層クロマトグラフィー用TLCプレート

    薄層クロマトグラフィー用『TLCプレート』は、 三種類の支持体があり、特長により使い分けることが可能な TLCプレートです。 一般にTLCは広範囲な分野で使用されていますが、 全ての用途や目的に使用されるものはなく、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ケムコプラス

  • 超高出力レーザーリアルタイム計測 M2測定器「HAAS」 製品画像

    超高出力レーザーリアルタイム計測 M2測定器「HAAS」

    レーザー加工の効率UP!測定器、レーザーヘッド、焦点ズレを防ぐ光学系ま…

    確認が可能。 取付けも簡単で、レーザー加工の効率と精度のアップに貢献します。 解析システムの他、「ビーム伝送システム」や「加工レーザーヘッド」、 熱レンズ効果による焦点位置のズレを防ぐ「TLCオプティクス」、 ミラー・レンズの光学部品、水冷マウントなど多数の製品をご用意しています。 【レーザー解析システム 各製品の特長】 ■「レーザービームアナライザーシステム BWA-CA...

    メーカー・取り扱い企業: オーテックス株式会社

  • 探査・測定機器カタログ 製品画像

    探査・測定機器カタログ

    PVドクターシリーズをはじめ、探査・測定機器を多数掲載しています!

    【その他の掲載内容】 ■漏電点探査機能付 配線路探査器Superラインチェッカ「TLC-C形」 ■電源側・負荷側双方向配線路探査器ロードチェッカ「LC-B形」 ■無停電漏電点探査器リークキャッチャー「SLE-A形」 ■位相特性試験器「DGT-M2形」 ■自動位相特性試験器「...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社戸上電機製作所 東京支社

  • 【産業用M.2 SSD】 高速アクセスのMTE452Tシリーズ 製品画像

    【産業用M.2 SSD】 高速アクセスのMTE452Tシリーズ

    産業用に専用設計されたMTE452Tは、PCIe Gen3 x2の高速…

    ■特色 M.2規格 / 2242-D2-B-M P/E = 3Kの高品質3D TLC BiCS4 高品質 FGT DDR3 キャッシュ PCI Express Rev. 3.1 NVM Express Rev. 1.3 NVMコマンド対応 SLCキャッシュ LDPC...

    メーカー・取り扱い企業: トランセンドジャパン株式会社

  • 近赤外分析計(NIR)による糖度、ブドウ糖などの分析【技術資料】 製品画像

    近赤外分析計(NIR)による糖度、ブドウ糖などの分析【技術資料】

    近赤外分析計で糖度(Brix)、ショ糖、果糖、ブドウ糖を一度に測定

    x、溶解糖含有量の尺度)の測定は、食品業界における重要な品質パラメーターです。これらの測定は、高速液体クロマトグラフィー(HPLC)、イオンクロマトグラフィー (IC)、薄層クロマトグラフィー (TLC) を使用して行うことができます。ただし、これらの方法は時間がかかり、ランニングコストが高くなる傾向があります。一方、近赤外分光法 (NIRS) では、化学薬品やサンプル前処理なしで 1 分以内に...

    メーカー・取り扱い企業: メトロームジャパン株式会社

1〜5 件 / 全 5 件
表示件数
45件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。