• 【分析事例】はんだ剥離部断面のTOF-SIMS分析 製品画像

    【分析事例】はんだ剥離部断面のTOF-SIMS分析

    微小領域の無機・有機物の分布評価が可能です

    はんだの剥離原因究明には、はんだと基板界面の成分分析を行うことが有効です。 TOF-SIMSは元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできることや、イメージ分析が可能なことから、剥離部の評価に適した手法です。 本資料では、はんだの剥離部断面を分析した事例を示します。基...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【資料】MALDI-TOF MS を用いた微生物迅速同定 製品画像

    【資料】MALDI-TOF MS を用いた微生物迅速同定

    微生物迅速同定の原理、方法、具体例および今後の課題と食品分野の応用例を…

    る微生物は、目視による検査ができず、 製品の充填後に増殖する可能性があります。 詳しい内容は、関連カタログよりご覧いただけます。 【掲載内容(一部)】 ■はじめに ■MALDI-TOF MS の概要と測定原理 ■MALDI-TOF MS による微生物の同定方法 ■今後の課題 ■食品業界での応用例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社コーガアイソトープ

  • 物流現場の“目”として活躍します!CISの高速・小型・軽量カメラ 製品画像

    物流現場の“目”として活躍します!CISの高速・小型・軽量カメラ

    カラー&距離データが取得可能なToFカメラや、高性能なSONY社製セン…

    近年ますますECの需要が高まり、物流業界では業務の効率化を図るために自動化の動きが高まっています。 これまで人手に頼ってきた作業も、カメラと画像処理システムを組み合わせることで業務をミス無く、速く、低コストに行うことが可能となりますが、人の“目”の代わりとなるカメラの質が悪くては安定した画像が取得できず業務に支障が出てしまいます。 CISでは、ToFカメラやソニー社製の高性能なPregiu...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス

  • Agilent 7250 GC/Q-TOFシステム 製品画像

    Agilent 7250 GC/Q-TOFシステム

    同定、定量を簡略化!ルーチンワークフローから先端の研究まで様々な分析に…

    『Agilent 7250 GC/Q-TOFシステム』は、GCで分析可能な化合物の同定、 定量、解釈を行うツールです。 フルスペクトルの高分離能精密質量データを広いダイナミックレンジに わたって採取することが可能。 低エネル...

    メーカー・取り扱い企業: 協立電機株式会社

  • 【技術資料】GC×GC-TOF/MSによるタール成分の分析 製品画像

    【技術資料】GC×GC-TOF/MSによるタール成分の分析

    極性の異なったカラムを直列に接続し分析!タール試料の測定結果をご紹介!

    当社では分析ソリューション事業を行っており、本資料には GCxGC-TOF/MSを用いてタール試料を測定した結果を掲載しています。 GCxGC(包括的二次元 GC)とは、モジュレータを介して 極性の異なったカラムを直列に接続し分析する方法です。 1stカラ...

    メーカー・取り扱い企業: 日鉄環境株式会社 分析ソリューション事業部・営業部

  • 【分析事例】TOF-SIMSによる毛髪の評価 製品画像

    【分析事例】TOF-SIMSによる毛髪の評価

    目的に応じた毛髪成分の評価が可能です

    TOF-SIMSは元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にでき、またイメージ分析が可能であることから、試料中の着目成分の分布・浸透具合の解析に有効な手段です。 毛髪に対して測定法と加工を組合わせることで、毛髪の表面や断面、深さ方向への分布と様々な視点からの評価が可能で、目的に応じた毛髪中の成分比較や浸透性評価を行うことができます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【資料】MALDIバイオタイパーの歴史(ホワイトペーパー) 製品画像

    【資料】MALDIバイオタイパーの歴史(ホワイトペーパー)

    材料から微生物まで!種レベルまで同定できる強力な技術として誕生

    当資料では、MALDI-TOF MSの誕生から、MALDIバイオタイパー開発とその用途の拡大などについて解説しております。 MALDI-TOF MSの歴史、商用MALDI-TOF MSシステムの製造において ブルカー社...

    メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 ダルトニクス事業部 微生物同定・菌株識別

  • [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法 製品画像

    TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法

    試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であるこ…

    試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です。 スパッタイオン源を用いて、深さ方向に無機・有機物の分布分析が可能です。 ・有機・無機化合物の構造解析・同定が可能 ・異物検査装置の座標データとリンケージが可能 ・ミクロンオーダーの微小異物から数cmまでの定性が可能 ・最表面を感度よく分析することが可能 ・イメ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • Agilent 6546 LC/Q-TOF 製品画像

    Agilent 6546 LC/Q-TOF

    信頼性の高い分析が可能!広いダイナミックレンジ、高分解能、優れた同位体…

    『Agilent 6546 LC/Q-TO』は、メタボロミクス研究、食品安全性、食品真正性 分析などの包括的なワークフローにおいてラボの生産性を高めるシステムです。 10GHzデータ取り込み技術を搭載。広いダイナミックレンジ、高分解能、 優れた同位体精度を同時に実現します。 また、Q-RAIまたはAll Ionsの取り込みモードにより、ターゲットスクリーニング とサスペクトスクリ...

    メーカー・取り扱い企業: 協立電機株式会社

  • ご希望者全員プレゼント!表面分析の基礎と受託分析事例 製品画像

    ご希望者全員プレゼント!表面分析の基礎と受託分析事例

    〈XPS・TOF-SIMS〉 表面分析とは何か・表面分析の種類等、基…

    ★掲載内容★  ■表面分析の基礎    ・表面分析とは?    ・表面分析の使い分け    ・XPS分析でできること    ・TOF-SIMS分析でできること    ・XPS,TOF-SIMS分析でできること  ■各手法の詳細情報    ・XPS X線光電子分光法    ・TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • <高出力、高速応答>ToFカメラに最適 VCSELパッケージ 製品画像

    <高出力、高速応答>ToFカメラに最適 VCSELパッケージ

    独自のドライバ内蔵パッケージ技術により、50%のシステムサイズダウンを…

    当社が取り扱う『スタック構造VCSELパッケージ』をご紹介します。 当社のパッケージ技術により、ドライバ内蔵パッケージを実現。 高放熱を維持しながら小型化に成功し、従来比2.5倍の光出力と高速応答を達成。 それに伴い、システムサイズ50%削減を実現しました。 <用途> AGV(自動搬送ロボット)、掃除ロボット、顔認証システム、ドローン など 【特長】 ■ドライバ内蔵パッケージ ■従来比2....

    メーカー・取り扱い企業: シチズン電子株式会社

  • 生体材料のイメージング質量分析法(IMS)の受託分析 製品画像

    生体材料のイメージング質量分析法(IMS)の受託分析

    TOF-SIMSとMALDI-MSの両方を組み合わせた脂質のイメージン…

    TOF-SIMSおよびMALDI-MSはいずれもイメージング質量分析(IMS:Imaging Mass Spectrometry)が可能な手法で、得意とする成分や質量、空間分解能が異なります。TOF-SIMSでは低質量成分を得意とし、高い面分解能でイメージングが可能です。一方、MALDI-MSでは高質量成分を得意とし、イメージングが可能な脂質の種類が豊富です。ここではマウス精巣中における脂質のイメージン...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • シースレスCE-MSインターフェイス 製品画像

    シースレスCE-MSインターフェイス

    マイクロクラック外周に被覆した半透膜が電圧印加時の電極側への分析物の流…

    【対応MS一覧】 ■Agilent Technologies:TOF,QTOF,Triple ■Bruker:Compact, tims-TOF Series ■SCIEX:Triple TOF 5600/Q TRAP 5500/Zeno TOF 7600 ...

    メーカー・取り扱い企業: インセムズテクノロジーズ株式会社

  • 【分析事例】撥水箇所の成分分析 製品画像

    【分析事例】撥水箇所の成分分析

    TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です

    密着不良などの不具合の原因を探るためには、ウエハやデバイスの表面の知見を得ることは重要です。今回、シリコンウエハ上に撥水箇所が確認されたため、TOF-SIMSで広域イメージングを実施しました。その結果、撥水箇所からはシリコーンオイル、CF系グリース、パラフィンオイルと推定される成分が確認されました。TOF-SIMSは通常500μm角までの測定...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査 製品画像

    【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査

    TOFーSIMSによる剥離面の汚染源の特定

    剥離不良が起こった際、界面の密着性を悪化させた成分を同定することが重要です。 ピーリング加工により、着目の界面で物理的に剥離させ、その表面に存在する成分をTOF-SIMSによって測定することで、剥離原因を調査することが可能です。 TOF-SIMSは有機物の構造を保ったままイオン化した二次イオンを検出し、剥離面に存在した成分が何由来なのかの情報を得ること...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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