• テカンはインターフェックスへ出展します! 製品画像

    テカンはインターフェックスへ出展します!

    PR医薬品・化粧品の研究・製造に関わる製品・技術・サービスが出展する最大級…

    インターフェックスWeek 2024 ファーマラボEXPO 出展 日程:2024年6月26日(水)~28日(金)10:00~17:00 場所:東京ビッグサイト https://www.interphex.jp/tokyo/ja-jp.html ファーマラボEXPOのラボオートメーションゾーンへ出展します。 以下の製品を紹介いたしますので、ぜひお越しください。 ・自動分注機Fluen...

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    • A200.jpg
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    メーカー・取り扱い企業: テカンジャパン株式会社

  • LA-ICP-MSによる生体試料のマッピング分析 製品画像

    LA-ICP-MSによる生体試料のマッピング分析

    マッピング分析により、生体試料中の元素分布を明らかにいたします

    LA-ICP-MS(レーザーアブレーション/ICP質量分析法)による元素マッピング分析をいたします。...LA-ICP-MSの特徴 ■ 高感度・迅速分析が可能 ■ 前処理が不要で、非破壊に近い分析が可能 ■ 溶解困難な固体試料も直接分析が可能 ■ 局所的な分析が可能 ■ 深さ方向分析・線分析・面分析(元素マッピング分析) ■ 微量(数ppm)から高濃度(数%)まで対応可能 ■ 多元素...

    メーカー・取り扱い企業: JFEテクノリサーチ株式会社

  • 【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定 製品画像

    【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定

    ICP-MS, GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析

    半導体材料に含まれる不純物は、リーク電流の発生やデバイスの早期故障等、製品の品質に影響する場合があります。従って、材料に含まれる不純物量を把握することは、製品の品質向上において重要です。本資料では、パワーデバイス材料として注目されているSiC基板について、基板表面に付着した不純物をICP-MS、基板中の不純物をGDMSで分析した事例をご紹介します。 測定法:ICP-MS・GDMS 製品分野:パ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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