カット野菜用異物除去装置『UDW-Fseries』

PR肉眼では見つけづらい同色の異物もピンポイントで検出・除去。機器選定のフ…

『UDW-Fseries』は、カット野菜を特殊赤外線カメラにより上下両面から検査し、 検出した異物をイジェクターでピンポイントに除去する装置です。 肉眼では見つけづらい同色の異物が混入している場合にも、高精度に検出・除去可能。 変色した葉の検出もできる、色彩検出機能が付いたタイプもラインアップしています。 ★他にも、様々な検出方式に対応した食品用異物除去装置を提供しています。 　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社服部製作所

バックターン洗浄機　自動戻りシステム搭載！

PR洗浄後にワークが自動的に戻ってくるため、一人での作業を実現！移動範囲も…

バックターン洗浄機は、洗浄出口からワークの自重でコンベヤに落下し戻ってくる方式で、複雑な制御装置が要らず一人作業で、コスト削減が見込める洗浄システムとなっております。 掲載画像寸法：1,350(H)×1,813(W)×4,800(L)mm。 ※コンベヤー部も含めた寸法です。 ※お客様の仕様により寸法は変わります。 ※乾燥機を装備する事も可能です。 【特長】 ■一人作業でコスト削...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ヒタカ精機

小型二次電子検出器『MINI-SED』

コンパクトな設計で省スペースの取付けが可能！装置開発のための電子検出器

子、二次電子を捕獲し増幅して電気信号として出力します。 コンパクトな設計のため、省スペース化を実現できます。 また、既存の装置への機能追加として使用可能です。 短タイプ(先端長：50 mm)、細タイプ (先端径：φ10mm)など 特殊仕様等のご相談にも対応いたします。 【特長】 ■pAからμAまでの幅広い電流検出範囲 ■最高応答速度5MHz ■超高真空対応(ベーキング温...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アプコ

試料破断器『ABK-5』

手軽に破断可能な試料破断器

ノブをゆっくり回して試 料を破断できる簡単な加工手順です。 こちらの製品は、断面SEM試料片作製システム「AMCシリーズ」の オプションとして使用されます。 【特長】 ■試料幅約5mmまで対応 ■各種半導体ウェハの破断が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アプコ

小型電子線鏡筒『MINI-EOC』

低加速SEM・計測用/解析用電子線源として使用可能！組込可能な小型電子…

【仕様(抜粋)】 ■加速電圧：～5000V ■プローブ電流：3×10^-12～10^-8A ■最小ビーム径：10nm (加速電圧=5000V、ビーム電流=0.3nA、W・D=8mm時) ■適応真空環境：2×10^-3Pa以下 ■最大ベーキング温度：150℃以下 ■取付形式：CF114フランジ ■重量：約20kg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アプコ

破断装置『AMC-7800』

作業性を大幅に改善！

【仕様】 ■ケガキ精度：±15.0μm ■光学系：単眼ズーム式実態顕微鏡 ■画像系：CCDカメラ+15インチ液晶 ■倍率：約22倍～約140倍 ■本体サイズ：445W×535D×650H(mm) ■本体重量：約50kg ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アプコ

破断装置『AMC-8000』

ケガキ精度±2.5μmを実現！

【仕様】 ■ケガキ精度：±2.5μm ■光学系：単眼ズーム式実体顕微鏡 ■画像系：CCDカメラ+20インチ液晶 ■倍率：約70倍～約450倍 ■本体サイズ：650W×550D×750H(mm) ■本体重量：約78kg ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アプコ

破断装置『AMC-7600』

ケガキ精度±15μmを実現！

【仕様】 ■ケガキ精度：±15.0μm ■光学系：双眼ズーム式実体顕微鏡 ■倍率：約15倍～約94倍 ■本体サイズ：445W×770D×550H(mm) ■本体重量：約53kg ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アプコ