イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）

イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）

・落下衝撃試験等、一定周期で機械ストレスを印加するような試験において、ストレス周期毎に10msec間抵抗値データ集録（1μsec間隔で10000point） ・標準構成において最大16ch同時に集録・判定・保存が可能。 ・瞬断検知と波形情報の取得を同時に実行。 ・集録済みのリストデータ及...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【事例】イベントディテクタシステム（環境試験槽連動）

最大160chの瞬断Eventを同時にモニタリング可能！！

。 ○Event管理制限。 ⇒Eventの発生回数は最大1000カウントまで（1001カウント以上は記録しない）。 ⇒Eventの連続カウントは20カウントまで（High/Low期間共に50msec以下のEvent波形が連続する場合を連続カウントとみなす）。 ⇒連続カウントが20カウントを超えた場合、要件を満たさなくなるまで、カウントstop。 ＜ファイル管理＞ ○複数のファイルを同時...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【事例】導通ＯＰＥＮモニタリングシステム

落下衝撃試験等に最適！機械的ストレスの瞬間をモニタリングします！

周期で発生する機械的ストレスに対し、電子部品の導通経路で電気抵抗が高くなる、もしくはOPNEとなる瞬間をモニタリングできるシステム。 ・衝撃信号（加速度等）のトリガ情報を基点に前後一定期間を10msec間抵抗値データを1μsec間隔で集録（10000point）。 ・管理規格との比較で、各chのピ－ク抵抗値が管理値を超えるとイベント信号を発生することができる。 ・保存した情報は、集録中/集録...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology