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分析講座【表面分析（XPS、TOF-SIMS）】ライブ、特典付
本講座は、表面分析手法であるXPS (ESCA）とTOF-SIMSの原…
子分光法（XPS / ESCA）、[2]飛行時間型２次イオン質量分析法（TOF-SIMS）について、原理と特徴、応用事例を紹介します。 [1] XPS / ESCA：材料表面中に存在する水素, ヘリウムを除くすべての元素の組成と化学結合状態を評価する手法。エッチングを併用した深さ方向分析、気相化学修飾法を適用して有機材料のカルボキシル基・水酸基・第１アミンなどの検出・定量が可能。仕事関数など電子...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター
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ガスクロのしくみ・用語などについて、皆様に楽しく学んでいただけるガスク…
座 第11回 炭化水素について 初心者のための ガスクロ 講座 第12回 触媒 について 初心者のための ガスクロ 講座 第13回 水素 について 初心者のための ガスクロ 講座 第14回 ヘリウムについて...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジェイ・サイエンス・ラボ 本社
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