• フェイス合わせ装置『PBD-30型』 製品画像

    フェイス合わせ装置『PBD-30型』

    PR異種、異常ボトルの検査・ラベラー機前のボトル容器の向き合わせに! ノズ…

    『PBD-30型』は、画像マッチング機能で異種、異常ボトル容器の検査が可能です。 『PBD-30型』のメイン機能としては、ボトル容器の向きを任意の位置で一定に合わせるフェイス合わせ機能を持っているのでPOPラベラー機の前に設置する事で、ボトル容器のキャップやノズルの向きとラベルの貼り付け位置を合わせる事ができます。 設定は最初にボトル容器の全周画像を自動で取込み、モニターに表示された全周画...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社プランナー

  • サーフェイスチャージプロファイラー QCS2500 製品画像

    サーフェイスチャージプロファイラー QCS2500

    非接触でエピウェハの抵抗率をモニター可能!

    QC2500シリーズは、非接触でエピタキシャルウェハーの抵抗率をモニターすることができます。測定原理としてサーフェイスフォトボルテージ(SPV)法を用いてウェハー上にパルス光を照射することによりウェハー表面電位変化を検出し、空乏層幅を測定します。強反転状態の空乏層幅が...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 非接触CV測定装置 Cn0CV 製品画像

    非接触CV測定装置 Cn0CV

    非接触式の重金属汚染・CV/IV・膜評価装置。 鉄濃度測定の感度はD…

    【特徴】 ■非接触CV/IVインライン測定 ■超高感度汚染管理(E8レベル鉄濃度測定) ■パタンモニター測定可能(SLモデル) ■PDM 【主な測定・評価項目】 ■汚染管理 -DSPVによる拡散長測定 -鉄濃度測定(E8レベル) ■膜評価 - 電気的膜厚(CET/EOT) -...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 表面電荷分析装置 SCA2011 製品画像

    表面電荷分析装置 SCA2011

    表面電荷分析装置

    面準位密度の測定   ■酸化膜工程    ・ウェハー汚染やプラズマ損傷による酸化膜中     電荷量の変化    ・熱ストレス等による界面準位密度の変化    ・窒化酸化膜中の固定電荷モニター   ■洗浄工程管理    ・ウェハー洗浄後の表面状態の電荷量チェック   ■CVD工程管理    ・膜中トラップ電荷状態のチェック ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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