• 食品衛生法に適合!コーティング技術※採用事例集 進呈 製品画像

    食品衛生法に適合!コーティング技術※採用事例集 進呈

    PR食材や調味料の付着や油汚れを減らし洗浄時間は最大1/2の事例も有り。

    【こんなお客様に!】 ◎食品搬送ラインの品物の滞留で困っている・・・ ◎設備に付着した油などの洗浄に時間がかかる・・・etc ⇒非粘着性、撥水性、滑り性に関するお悩みを解決いたします! 【特長】 ◆食品製造ラインへの採用実績多数 ◆撥水性、滑り性が非常に優れている ⇒Ni金属をベースにPTFEを複合した皮膜 ◆金属膜のため硬く、傷がつきにくく、長持ち ◆ステンレスとの密着性が良好 ◆食品衛生法に...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本プロトン

  • シングルユース低せん断力連続遠心分離システム『Ksep50』 製品画像

    シングルユース低せん断力連続遠心分離システム『Ksep50』

    PR高い生存率と回収率を実現

    ■細胞遠心分離プロセスにおいて、せん断力が小さく抑えられ、プロセス開発(0.1 L)からGMPに準拠した製造(20 L)へのシームレスな移行が可能 ■閉鎖系の細胞回収プロセスにおいて、細胞処理時間を50%短縮 ■細胞回収率を90%超に向上 ■最大108細胞/mLの細胞密度でも堅牢な結果を実現 ■せん断力が小さいカウンターフロー分離により細胞生存率が向上...従来の遠心分離法はせん断力が大き...

    メーカー・取り扱い企業: ザルトリウス・ステディム・ジャパン

  • 光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置 製品画像

    光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置

    シリコンフォトニクス導波路等の微細構造導波路デバイスの挿入損失を高速・…

    失自動測定装置です。 光ファイバ計測ポートと同軸観察画像検出器により、被測定光導波路の 入射側・出射側コア端面画像を直接観察、同時に光ファイバによる 自動パワー調芯を行います。 画像処理による粗調芯と光ファイバ微調芯(光パワー調芯)を併用、 超微細導波路の挿入損失を高速かつ高い再現性で効率的に測定可能です。 【特長】 ■当社製汎用型偏光対策光計測用光学系M-Scope t...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光ビーム解析モジュール『AP013』 製品画像

    光ビーム解析モジュール『AP013』

    さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム

    『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです。 当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズ・2次元光検出器ISAシリーズとの組合せにより、 可視~近赤外波長域のさまざまな光ビーム観察・光パラメータ計測に応用が可能...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光テスター(光配線導波路高速導通検査装置) 製品画像

    光テスター(光配線導波路高速導通検査装置)

    光配線基板用多チャンネルポリマー光導波路の量産検査用光導通検査装置

    った 光配線導波路量産段階における高速光導通テストが可能となりました。 【特長】 ■測定光一括励振方式による無調芯・高速測定 ■測定光一括励振光源ユニット・高N.A.検出光学系・高速画像処理アルゴリズムにより、  量産検査にも対応可能な高速・高精度・高再現性高速導通・相対損失測定  ・専用ソフトウエアにより光導波路の導波伝搬信号のみを抽出・処理・判定 ■電動ステージとの組み合わせ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • システム『M-Scope typeS/NFP計測システム』 製品画像

    システム『M-Scope typeS/NFP計測システム』

    ビームスポット観察から高度な光学特性解析まで対応可能!

    『M-Scope typeS/NFP計測システム』は、ビームスポット観察から 光デバイスの高度な光学特性解析まで対応可能な、高機能光ビーム観察・ 計測光学系M-Scope typeSとその専用処理システムです。 最高200倍の光学倍率(対物レンズ100倍使用時)で、微小スポットの観察・ 解析にも対応しています。 独自開発の高機能光ビーム解析ソフトウェアOptometricsによ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 高出力レーザ用FFP計測装置 製品画像

    高出力レーザ用FFP計測装置

    ~10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置

    高出力レーザの 放射角度分布(ファーフィールドパターン)を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFと2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの 放射角度分布(FFP:ファーフィールドパターン)をリアルタイムで取得・測定可能です。 【特長】 ■出力~10Wクラス高出力...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

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