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12件 - メーカー・取り扱い企業
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PR当製品で快適な作業を!無菌操作やプロテオミクスの処理に好適
『LABOPAD Series』は、直感的に操作可能で、設置スペースを選ばない コンパクトサイズの薄型恒温プレートです。 「LABOPAD-C2」は0~100℃、「LABOPAD-H2」は室温+3℃~100℃までに 設定できるドライバスインキュベーター。当製品は、厚さが薄いため、 どこでも簡単に持ち運べます。 また、「LABOPAD-C2」は冷却機能が付いていますので、これまでの...
メーカー・取り扱い企業: トスク株式会社(旧十慈フィールド)
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PR金属異物を吸着除去し、食品などの信頼性確保に貢献。製粉、製糖ラインなど…
『DGH/DGSシリーズ』は、ホッパー内や配管内などに取り付けることで、 格子状に並んだマグネットバーの強い磁力により、金属異物を吸着・除去できる異物除去器です。 食品生産ラインなどのコンタミ対策に貢献するほか、 溶接により作られた継ぎ目のない構造のため、クロスコンタミのリスク低減にも貢献します。 また、清掃作業の省力化のニーズに応え、さや管付きの「簡易清掃タイプ」もご用意。 さ...
メーカー・取り扱い企業: ダイカ株式会社
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専用光学系+画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用シス…
『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール 等のFFP(ファーフィールドパターン:遠視野像)を計測する装置です。 専用光学系+画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測・ 放射角度分布計測・出射 N.A. 計測・解析に応用可能です。 光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで 様々なシステ...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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シリコンフォトニクス導波路等の微細構造導波路デバイスの挿入損失を高速・…
失自動測定装置です。 光ファイバ計測ポートと同軸観察画像検出器により、被測定光導波路の 入射側・出射側コア端面画像を直接観察、同時に光ファイバによる 自動パワー調芯を行います。 画像処理による粗調芯と光ファイバ微調芯(光パワー調芯)を併用、 超微細導波路の挿入損失を高速かつ高い再現性で効率的に測定可能です。 【特長】 ■当社製汎用型偏光対策光計測用光学系M-Scope t...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム
『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです。 当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズ・2次元光検出器ISAシリーズとの組合せにより、 可視~近赤外波長域のさまざまな光ビーム観察・光パラメータ計測に応用が可能...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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光配線基板用多チャンネルポリマー光導波路の量産検査用光導通検査装置
った 光配線導波路量産段階における高速光導通テストが可能となりました。 【特長】 ■測定光一括励振方式による無調芯・高速測定 ■測定光一括励振光源ユニット・高N.A.検出光学系・高速画像処理アルゴリズムにより、 量産検査にも対応可能な高速・高精度・高再現性高速導通・相対損失測定 ・専用ソフトウエアにより光導波路の導波伝搬信号のみを抽出・処理・判定 ■電動ステージとの組み合わせ...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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ビームスポット観察から高度な光学特性解析まで対応可能!
『M-Scope typeS/NFP計測システム』は、ビームスポット観察から 光デバイスの高度な光学特性解析まで対応可能な、高機能光ビーム観察・ 計測光学系M-Scope typeSとその専用処理システムです。 最高200倍の光学倍率(対物レンズ100倍使用時)で、微小スポットの観察・ 解析にも対応しています。 独自開発の高機能光ビーム解析ソフトウェアOptometricsによ...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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ハイパワーレーザ用FFP計測光学系M-Scope type HF
【※デモ測定対応可能】高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減…
e type HF』は、1~10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布(ファーフィールドパターン)計測用光学系です。 専用設計のハイパワーレーザ対応FFP計測光学系+2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せを採用。 高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの放射角度分布 (FFP:ファーフィールドパターン)をリアルタイムで取得・測定可能です。 【特長】 ■1W~10W...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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検出器の選択により可視・近赤外まで対応可能!
『M-Scope typeC/コリメート光調整システム』は、専用光学系と、 画像解析による、LDモジュール等コリメート光調整用光学システムです。 本光学系および処理装置を応用し、各種精密位置決めステージと組み合わせた 各種モジュール調整装置の提案をすることも可能です。 検出器の選択により、可視・近赤外まで対応が可能です。 【特長】 ■検出器の選...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできま…
【仕様(抜粋)】 ■方式:ビームサンプラー(対物レンズ後方2段)搭載型NFP計測光学系+画像処理解析方式 ■測定対象入射光量:1~10W ■減光方式:2段ビームサンプラーにより約99.99%減光(反射光はビームダンパーにより遮蔽)、およびフィルタポートへの減光フィルタ挿入併用方式(最大2枚...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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~10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置
高出力レーザの 放射角度分布(ファーフィールドパターン)を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFと2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの 放射角度分布(FFP:ファーフィールドパターン)をリアルタイムで取得・測定可能です。 【特長】 ■出力~10Wクラス高出力...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』
複数の光計測を実現!多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光…
『M-Scope type I』は、光照射計測・受光計測・光ビームプロファイル計測 等の多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光学系です。 光計測用光ファイバポートと画像処理・解析用画像検出器用ポートを搭載し、 複数の光計測を実現できるほか、目的に応じたさまざまな光学計測用 コンポーネントを増設可能で、計測目的や計測項目、計測タクト等、使用目的 にあわせた光学計測...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』
5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…
【仕様(抜粋)】 ■方式:ビームサンプラー搭載型NFP計測光学系+画像処理解析方式 ■測定対応波長域:400nm-1100nmの計測対応波長範囲から計測波長を選択 ■測定可能入射光量:~5W(標準)(応相談) ■対物レンズ倍率:10倍 ■N.A.:0.28 ■中...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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各種発光素子・光学モジュールの発光ビーム観察などに最適な製品を掲載!
計測光学系「M-Scope typeC/コリメート光調整システム」など ■システム・コンポーネントセレクションガイド ・各種サンプル対応機器セレクション ・光学系セレクション ・データ処理装置 など ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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