• 分光エリプソメーター GES5E 製品画像

    分光エリプソメーター GES5E

    薄膜光学特性を非破壊で測定! 手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…

    日本セミラボの分光エリプソメーター『GES5E』は、従来の光学測定器では不可能だった薄膜光学特性の測定を非破壊で実現しました。 薄膜、多層膜の膜厚、各層の屈折率(N,K値)波長分散を算出。研究開発からインライン...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催 製品画像

    回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催

    多層膜の膜厚・屈折率を非接触で高精度測定。本体の操作や解析作業が容易 …

    『SE-2000』は、薄膜の膜厚・屈折率を“非接触”で高精度に測定できる回転補償子型の分光エリプソメータです。 ユーザーフレンドリーな解析ソフトを備えており、解析作業が容易。 深紫外から近赤外領域まで幅色い波長領域の測定に対応しています。 材料の組成比、異方性、Mueller ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 【技術資料】分光エリプソメーター測定原理~偏光とは? ※資料進呈 製品画像

    【技術資料】分光エリプソメーター測定原理~偏光とは? ※資料進呈

    偏光・エリプソメーター・ブリュースター角など!図やグラフと共に分かりや…

    当資料は、分光エリプソメーターの測定原理についてご紹介しています。 電場および磁場の振動方向が規則的な光のことをいう「偏光」をはじめ、 エリプソメーターの原理、光学干渉についてなどを掲載。 図やグラフと...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 薄膜評価装置『分光エリプソメーター』 製品画像

    薄膜評価装置『分光エリプソメーター』

    【デモ可能】化合物半導体材料の組成比の評価も可能!非接触・非破壊でエピ…

    分光エリプソメーター』は、非接触・非破壊でエピ膜を含む薄膜の膜厚値、 屈折率、消衰係数を精度良く測定する薄膜評価装置です。 化合物半導体材料の組成比の評価も可能。 主な評価・測定項目は、“...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 分光エリプソメーター 赤外領域 製品画像

    分光エリプソメーター 赤外領域

    赤外分光エリプソメトリー

    分光エリプソメーターにFTIRがついたモデルです。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • ロールツーロール分光エリプソメータ 製品画像

    ロールツーロール分光エリプソメータ

    ロールツーロール分光エリプソメータ

    QCモニタリングにて非常に多くの実績があります。...ロールツーロールにてノンストップで膜厚を多点測定可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • エピ膜厚測定装置『EIR-2500』 製品画像

    エピ膜厚測定装置『EIR-2500』

    IR反射率測定ヘッドを使用可能!高スループットのエピ膜厚測定を実現した…

    『EIR-2500』は、FTIR機能と共に、赤外分光反射率計を備えた独自の エピ膜厚測定装置です。 高スループットのエピ膜厚測定を実現し、適用されるSEMI/CE規格に完全に 準拠しています。 また、EIR製品シリーズは、高性能で信頼...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 薄膜太陽電池パネル測定装置 製品画像

    薄膜太陽電池パネル測定装置

    薄膜太陽電池パネル測定装置

    太陽電池で必要な様々な光学系、電気系測定が1台で可能です。  - 分光エリプソ(膜厚、光学特性)  - ライフタイム測定  - シート抵抗測定  - 比抵抗測定  - ラマン分光 第10世代パネル対応まで対応可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 光学式細孔率・細孔分布測定装置 製品画像

    光学式細孔率・細孔分布測定装置

    世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター)細孔…

    ■ 前処理が必要がなく、 20分/ポイントと従来型に比べて高速に測定が可能です。 ...【アプリケーション】 ・Low-k膜の細孔率測定 ・色素増感太陽電池のTiO2細孔率測定 ・細孔サイズ(0.5~65nm)、厚さ(50nm~5um)のサンプル 【特徴】 ・膜厚、屈折率、表面積、浸透率、ヤング率、CTE計測も測定可能 ・従来の方式に比べ、短時間での測定が可能(20分/point...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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