【資料】超高速フローサイトメーターを最大限に活用するヒントとコツ

PRハイスループット処理とマルチプレックス解析を実現！超高速フローサイトメ…

当資料では、超高速のフローサイトメトリープラットフォームを最大限に活用するヒントとコツについて解説しております。 細胞ベースの分析では、細胞単位ベースでの情報を提供する機器としてフローサイトメーターが依然として有力なツールです。 しかし従来のフローサイトメーターは、ハイスループットなデータ獲得が要求される最新の創薬研究に適した設計ではなく、 そのまま研究ワークフローに当てはめようとすると、ワーク...

メーカー・取り扱い企業： ザルトリウス・ジャパン株式会社

リニアポンプ『LRシリーズ』【優れた定量性と送液精度！】

PR医薬・研究・食品・環境分析など幅広い用途に応える高機能！独自開発による…

リニアポンプ『LRシリーズ』は独自開発による超高効率リニアドライブ により、優れた定量性と送液精度で医薬・研究・食品・環境分析など 幅広い用途に応える高機能を搭載しています。 【特長】 ■静音 　新しい駆動方式の採用により騒音の原因となる運転音を回避。 　※ 運転条件、周囲環境により異なります。 ■無脈動 　駆動部を独立制御。2つのポンプ部の交互運転により無脈動注入を実現。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イワキ

【分析事例】TDSによる銅板・はんだの同時加熱分析

部材同士を接触させ、実プロセスに近い環境での脱ガス評価が可能

トロニクス分野において欠かすことのできない工程のひとつです。 金属とはんだが接触した状態で加熱した際の脱ガスは、ボイドの原因となることが知られています。 以下に、銅板にはんだを乗せた状態でTDS分析(昇温脱離ガス分析)を行った事例を紹介します。TDSは部材の加熱に伴う脱ガスを評価可能です。TDS装置内で銅板とはんだを接触させ同時に加熱することで、実プロセスに近い環境での脱ガスを捉えることができ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】スマートフォン用保護フィルムのAFM分析

感覚的な製品の出来映えを定量評価可能

スマートフォンの普及率は年々増加し、それに併せて表面に貼る保護フィルムも機能が多様化しています。 今回、指紋防止及び反射防止機能を持つ2種(A,B)のフィルムについて、AFM分析により、手触りのような感覚を粗さという観点で定量評価した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【セミナー8/4】質量分析の条件設定とマススペクトルの読み方

～基本からノウハウまで～

エス・ソリューションズ(株)　代表取締役　博士（工学）高橋 豊 氏 【活動】(株)プレッパーズ　代表取締役社長，浜松医科大学　特任研究員 ，液体クロマトグラフィー研究懇談会役員 【専門】質量分析 ■　開催要領 日　時 ： ２０２３年８月４日(金)　１０：３０～１６：３０ 会　場 ： Zoomを利用したLive配信　※会場での講義は行いません Live配信セミナーの接続確...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社技術情報協会

【分析事例】TDSによるグラフェンの脱ガス分析

炭素材料中の官能基や不純物などに起因する脱ガスについて評価可能です

てきています。そのため真空中での炭素材料からの脱ガスを評価することは、今後の炭素材料の応用の上で重要なポイントとなります。 本事例では真空中において試料からの脱ガスが評価できるTDS（昇温脱離ガス分析法）でグラフェンからの脱ガス分析を実施した事例を紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

分析用光ファイバーアセンブリ 総合カタログ

開口数・NA・コア径で豊富なラインナップで対応！カスタム品も小ロットか…

当カタログは、産業用途から医療用途・分析用途などで優れた性能と 豊富なラインナップの光ファイバーケーブルを掲載した総合カタログです。 多彩な開口数（NA）・コア径・クラッド径のラインナップから 用途に合ったマルチモード光ファイバ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ティー・イー・エム

【分析事例】セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価

ppmオーダーの微量金属も評価可能です

各種材料の特性を設計・制御するにあたって、母材に微量含まれている元素の種類や量、またそれらの存在状態を明らかにするのは非常に重要です。このうち元素の種類や量に関してはSIMS(二次イオン質量分析法)やICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析法)などによって評価可能ですが、価数・化学結合状態などといった存在状態の評価には放射光を用いたXAFS(X線吸収微細構造)測定が有効です。本資料では測定例...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】クリーンルーム内有機化合物の評価方法

GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法

ンルームでは、パーティクルだけでなく分子レベルの化学汚染（分子状汚染）を把握することが重要です。浮遊分子状汚染物質としては酸・塩基性ガスや凝集性有機物質、ドーパント、金属などが挙げられ、成分に応じて分析方法は異なります。 ここでは凝集性有機物質の詳細と、代表的な捕集方法である“吸着剤捕集”と“ウエハ暴露捕集”について紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】真空中での有機成分の脱離評価

複合解析により特定の有機成分の脱離について温度依存性評価が可能です

TDS（昇温脱離ガス分析法）は真空中（1E-7 Pa）で試料を昇温しながら脱離成分と脱離温度を確認できる手法です。さらに有機物を同定できるGC/MS（ガスクロマトグラフィー質量分析法）とTDSの結果を組み合わせて解析するこ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【セミナー9/20】潤滑油の分析と劣化診断法

劣化のメカニズム、分析の基本から新しい劣化診断法まで！

■　講師 福井大学　学術研究院工学系部門　工学領域機械工学講座　教授　博士(工学)　本田 知己 氏 【専門】機械工学，トライボロジー 【活動】(一社)日本トライボロジー学会　第66, 67期　理事（令和3, 4年度） 　　　　 (一財)日本規格協会　JIS原案作成委員会　委員長（令和2～4年度） ■　開催要領 日　時 ： ２０２３年９月２０日(水)　１０：３０～１６：３...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社技術情報協会

【セミナー9/5】高感度分析技術の検出限界/定量下限評価

～定量分析における誤差の考え方～

■　講師 アキュプレック(有)　取締役社長　井野 邦英　氏 　（専門） 統計解析、精度管理、精度管理・統計解析システム開発 ■　開催要領 日　時 ： ２０２３年９月５日（火）１０：３０～１６：３０ 会　場 ： Zoomを利用したLive配信　※会場での講義は行いません Live配信セミナーの接続確認・受講手順は 「こちら」 をご確認下さい。 聴講料 ： ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社技術情報協会

【セミナー8/8】イオンクロマトグラフィーでの 前処理、分析

分析の肝である前処理のなかでも、“燃焼前処理法” を詳しく解説！

■　講師 【第１部】　 日本大学　理工学部　物質応用化学科　准教授　吉川 賢治　氏 【第２部】 株式会社　ナックテクノサイエンス　長嶋　潜　氏 ■　開催要領 日　時 ： ２０２３年８月８日（火）　１０：３０～１６：４５ 会　場 ： Zoomを利用したLive配信　※会場での講義は行いません Live配信セミナーの接続確認・受講手順は「こちら」をご確認下さい。 聴講料 ： ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社技術情報協会

【資料】アプリケーションノート：バッテリー材料分析編

一冊のアプリケーションノートに集約！バッテリー材料の開発と品質管理を加…

に ■バッテリーアプリケーション ■鉱山から工場まで ■リチウムイオン二次電池における導電性材料のESM測定 ■電解質設計のための卓上型多核NMR ※【資料】アプリケーションノート：バッテリー材料分析編を無料プレゼント！ 　PDFをダウンロードしてご覧ください。お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

【分析事例】はんだボール表面の酸化膜評価

球体形状試料の評価事例

AES分析ではSEM観察機能が付随していることから、試料表面の特定箇所を測定することが可能です。 またサブμｍの微小領域での測定が可能なため、基板等の平坦試料だけではなく、球体形状や湾曲形状の試料でも、曲率...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】CMOSセンサの総合評価

スマートフォン部品のリバースエンジニアリング

した事例をご紹介します。 目的に応じて研磨・FIB加工により、平面、断面を作製し、TEM,SEMにより層構造やレイヤーを確認しまた。さらに、EDXにより膜種の同定を行いました。MSTでは、解体から分析まで一貫してお引き受けが可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】DRAMチップの解析

製品内基板上DRAMのリバースエンジニアリング

代表的なメモリであるDRAMについて製品レベルからTEM観察による素子微細構造解析まで一貫して分析します。 外観観察からレイヤー解析、Slice＆Viewを行うことで構造の全体像を把握し、FIB加工位置をナノレベルで制御し薄片形成後にメモリ部の微細構造をTEM像観察しました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST