光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

ELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエハレベルで解析・ データ収集を行うシステ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

FFP計測装置【※デモ測定対応可能】

専用光学系＋画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用シス…

『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール 等のFFP(ファーフィールドパターン：遠視野像)を計測する装置です。 専用光学系＋画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測・ 放射角度...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能！

【応用】 ■半導体レーザや各種レーザデバイスのビームプロファイル計測 ・NFP計測 ■各種光ファイバ出射端NFP計測・ビームプロファイル計測 ■光導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測 ■光配線導波...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社