• 気中ハンドヘルドパーティクルカウンタ『KC-52A』 製品画像

    気中ハンドヘルドパーティクルカウンタ『KC-52A』

    PRタッチパネル式で多機能!多点モニタリングシステムに対応しています

    『KC-52A』は、ISO 21501-4(JIS B 9921)に適合した 気中ハンドヘルドパーティクルカウンタです。 医薬品・飲料・食料品の製造工程やパッキング工程の環境管理、 半導体製造現場の環境管理、病院や医療現場の清浄度管理などに 適しています。               【特長】 ■粒径区分は0.3、0.5、1.0、2.0、5.0、10.0μm(6段階) ■パスワードの設定により...

    メーカー・取り扱い企業: トスク株式会社(旧十慈フィールド)

  • 撹拌機「AJITER」×水圧モータ「NADS」 製品画像

    撹拌機「AJITER」×水圧モータ「NADS」

    PR水の力で撹拌機を動かす!エアーを使わないので空気が綺麗、電気を使わない…

    水道水を作動流にするNADSの水圧モータを使用した撹拌機です。 エアーを使わないので空気が綺麗、電気を使わないので環境に配慮した 安全・安心な撹拌機です。 【NADSとは?】 NADSはNACOL株式会社の新・水圧技術(ADS: Aqua Drive System)を 使用したポンプやモータ、リリーフ弁、ソレノイドバルブ等を展開する シリーズ。空圧や電気駆動では難しかった高性能な駆...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社島崎エンジニアリング 本社

  • 光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』 製品画像

    光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

    電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

    ELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエハレベルで解析・ データ収集を行うシステ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • FFP計測装置【※デモ測定対応可能】 製品画像

    FFP計測装置【※デモ測定対応可能】

    専用光学系+画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用シス…

    『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール 等のFFP(ファーフィールドパターン:遠視野像)を計測する装置です。 専用光学系+画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測・ 放射角度...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』 製品画像

    光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

    光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能!

    【応用】 ■半導体レーザや各種レーザデバイスのビームプロファイル計測 ・NFP計測 ■各種光ファイバ出射端NFP計測・ビームプロファイル計測 ■光導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測 ■光配線導波...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

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