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    【デモ機あり】 粉体溶解機 / 粉末溶解ポンプ

    PR様々な粉体を液体中に分散・溶解が可能! ダマや溶け残りなし・短時間処理…

    粉体の液体中への分散・溶解というと、タンク内の大型撹拌機で攪拌する、もしくはハンドミキサーで小容量の攪拌を何回も繰り返す、というのが一般的かと思います。ただ、これらの方法ではダマや粉体の溶け残り、処理時間が遅い、作業者に負担がかかるなど、お悩みはありませんか? 弊社の粉体溶解機を使用すれば粉体投入口が腰の位置にあるため、作業者の負担が軽減され効率的な作業が可能です。また、短時間で処理ができ、ダマ...

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    メーカー・取り扱い企業: 関西乳機株式会社

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    【分析事例】LDI-MSによるフッ素系ポリマーの構造解析

    フッ素系グリース、フッ素系潤滑剤、フッ素系オイル等の構造解析

    フッ素系の高分子材料は化学的安定かつ様々な特性をもち、産業機械や半導体、エレクトロニクス分野で幅広く使用されています。LDI-MS(レーザー脱離イオン化質量分析法)は分子量数千程度のフッ素系ポリマーを分子のままイオン化できる分析手法であり、フッ素系ポリマーの繰り返し...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    【イオンクロマトグラフィー資料】水酸化アンモニウムの不純物測定

    イオンクロマトグラフで中和とマトリックス除去を伴う濃縮工程を自動化して…

    半導体産業では、超高純度試薬が必要とされます。イオン性不純物が含まれていると製品の品質を損なう可能性があります。 このアプリケーションでは、28%の半導体グレードの水酸化アンモニウム溶液中の陰イオン不純物の測定結果を示します。 マトリックスの影響を避けるために、インライン中和とマトリックス除去を伴う濃縮テクニックを用いて測定を行ないました。...

    メーカー・取り扱い企業: メトロームジャパン株式会社

  • 固体分析 新サービス開始 (GDMS) 製品画像

    固体分析 新サービス開始 (GDMS)

    「多くの元素を感度よく測りたい!」というご要望にお応えします。 主成…

    ワイドギャップ半導体材料として用いられるSiCやGaNは耐薬性が高いため完全溶解することができず、化学分析での不純物分析が困難でした。 一方、ワイドギャップ半導体市場が年々増加する中で、多くの元素を感度よく測りたい...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    NMR分析サービス

    NMRで有機物から無機物まで、組成や分子構造を幅広く分析! 検討から…

    【分析事例】 ・電池/半導体:電解液の溶液 NMR や大気非曝露での多核・固体 NMR 測定 ・樹脂/ポリマー:樹脂成分やポリマーの組成・劣化解析が可能 ・食品/環境:食品・サプリメント中の成分の定量や劣化状態の分析 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布 製品画像

    【事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布

    SiO2膜の不純物の評価

    アルカリ金属であるLi,Na,Kは半導体における各種故障原因の要の元素です。これらは測定時に膜中を移動してしまう可動イオンと言われており、正確な分布を得ることが困難とされてきました。 今回、スパッタイオン源にGCIB(Arクラスター)...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定 製品画像

    【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定

    ICP-MS, GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析

    半導体材料に含まれる不純物は、リーク電流の発生やデバイスの早期故障等、製品の品質に影響する場合があります。従って、材料に含まれる不純物量を把握することは、製品の品質向上において重要です。本資料では、パワーデバイス材料として注目されているSiC基板について、基板表面に付着した不純物をICP-MS、基板中の不純物をGDMSで分析した事例をご紹介します。 測定法:ICP-MS・GDMS 製品分野:パワーデ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】IGZO(粉末・バルク・薄膜)の組成・不純物分析 製品画像

    【分析事例】IGZO(粉末・バルク・薄膜)の組成・不純物分析

    主成分及び金属不純物元素の定量分析

    透明酸化物半導体であるIGZO薄膜はディスプレイ用TFT材料として研究開発が進んでいます。 IGZOは薄膜の組成や膜中の不純物量で特性が変化する材料であり、組成・不純物の情報を得ることは重要です。 今回は薄膜...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • SIMS分析データの再現性 製品画像

    SIMS分析データの再現性

    再現性の高い不純物量評価が可能です

    半導体デバイスの製造において、ドーパント等の不純物の制御は重要な工程となります。 イオン注入に着目した場合、僅かな差が品質や性能に影響を及ぼすため、正確な制御が必要となります。SIMS分析の高い再現性は、それらの開発・維持管理に最適です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術資料『圧縮空気の清浄度測定』 製品画像

    技術資料『圧縮空気の清浄度測定』

    圧縮空気の清浄度に関わる規格・規定された試験方法を紹介した技術資料

    技術資料『圧縮空気の清浄度測定』は、医療・製薬関連、食品等の衛生関連や半導体等の高度技術関連のような清浄度の高い圧縮空気を必要とする用途で活用されている、圧縮空気の清浄度測定について掲載した資料です。 本資料では「圧縮空気の清浄度に関わる規格、その中に規定された試験...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニケミー

  • 【イオンクロマトグラフ】H2O2中トリメチルアミンと標準陽イオン 製品画像

    【イオンクロマトグラフ】H2O2中トリメチルアミンと標準陽イオン

    半導体製造向け過酸化水素トリメチルアミンと標準陽イオンの測定をイオンク…

    当資料では、イオンクロマトグラフィーにより、30%の過酸化水素(H2O2)中のトリメチルアミン(TMA)および標準陽イオンの測定を行った結果をご紹介しております。 分析にはマトリックス除去を伴うインライン濃縮(MiPCT-ME)を用いて、 陽イオンの連続サプレッション後電気電導度検出器により測定。 「分析方法」や「分析パラメータ」、「装置構成」などを掲載しています。 【掲載内容】 ■カラ...

    メーカー・取り扱い企業: メトロームジャパン株式会社

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