薄膜評価装置『分光エリプソメーター』

【デモ可能】化合物半導体材料の組成比の評価も可能！非接触・非破壊でエピ…

『分光エリプソメーター』は、非接触・非破壊でエピ膜を含む薄膜の膜厚値、 屈折率、消衰係数を精度良く測定する薄膜評価装置です。 化合物半導体材料の組成比の評価も可能。 主な評価・測定項目は、“薄膜の膜厚値”、“エピ膜厚値”、“屈折率”、 “消衰係数”、“化合物半...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

分光装置『Tera Prospector』

状況変化が見える！劣化の診断に新たな可能性が！内部の状態が非破壊で分か…

パルスの電場強度の時間波形を計測する ことで、電場強度と共に位相情報も同時に計測します。 また、イファレンスとサンプルでの時間波形の違いを解析することにより、 サンプルに複素誘電率（複素屈折率）の周波数依存性を得ることが出来ます。 【特長】 ■非破壊で内部検査 ■汎用性重視 ■広い試料室空間を確保 ■付属光学系の導入を実現 ■多様性・拡張性・柔軟性・容易性に優れる ...

メーカー・取り扱い企業： 日邦プレシジョン株式会社

ルチル（TiO2）結晶製品

TiO2の単結晶であるルチル型構造を持つ結晶製品を提供しています

・TiO2には３種類の結晶型がありますが、信光社では世界的にも稀少なルチル型構造の結晶を提供しています。 ・大きな屈折率と複屈折および広い透過特性から、光学的なコアパーツとして用いられています。 ・光触媒の分野でも単結晶の特長をいかした基礎研究に用いられています。 ・良質な結晶性と表面をステップ&テラス処理でき...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社信光社

SrTiO3 単結晶 基板（STO substrate）

信光社のSrTiO3 (STO) 基板は、世界中の薄膜研究者にご愛用い…

080℃ 　密度：5.122g/cm3（20℃） 　誘電率：310（27℃、1MHz） 　熱膨張係数：11.1×10-6/℃（室温～1000℃） 　相転移：110K（正方晶⇔立方晶） 　屈折率：2.407（at 589nm） 　※お問い合わせの際に ご希望の 　　1. サイズ(外形と厚み)　2. 面方位　3. 研磨面(片面or両面)　4. ご所要数　5. その他オプション　など...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社信光社