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技術情報誌 202304-01 エリプソメトリーを用いた薄膜評価
エリプソメトリによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁…
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 分光エリプソメトリーは光の偏光状態の変化を測定し、光学定数(屈折率・消衰係数)や膜厚を評価する手法として知られている。2021年に導入した高速分光エリプソメトリーM-2000UIによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁膜の傾斜エッチング評価につい...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター
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TOF-SIMSにより光ファイバーの材料の定性・分布評価が可能です
光ファイバーは屈折率の高いコアの周りを屈折率の低いクラッド層で覆う構造をしています。屈折率の違いにより、境界で光を全反射し伝達します。そのため、それらの材料の選択、不純物の有無、密着性、被覆状態、付着物などを分析する...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決!混合している多成分の同時定量…
な充填剤を詰めたカラム中に、移動相である液体をポンプで 加圧して流すことにより、混合試料を迅速に分離し、検出器により各成分の 検出を行います。 検出器には、紫外・可視吸光光度検出器、示差屈折率検出器、電気伝導度検出器、 蒸発光散乱検出器、蛍光検出器、質量分析計などがあり、カラムと検出器の選定により、 様々な成分の分析が可能です。 【特長】 ■混合している多成分の同時定量分析...
メーカー・取り扱い企業: イビデンエンジニアリング株式会社 環境技術事業部
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