• 極低加速電圧SEMを活用した医薬品の可視化 製品画像

    極低加速電圧SEMを活用した医薬品の可視化

    最先端の電子顕微鏡観察手法を駆使し、医薬分野のお客様のニーズにお応えし…

    試料の極表面や断面をナノオーダーで電子顕微鏡観察・分析するには、加工によるダメージや汚染のない試料作製技術が不可欠です。 当社は、これまでに培った試料作製技術により最適な方法で試料加工した上で、極低加速電圧走査電子...

    メーカー・取り扱い企業: JFEテクノリサーチ株式会社

  • 【分析事例】光ファイバーのコアとクラッドの定性評価 製品画像

    【分析事例】光ファイバーのコアとクラッドの定性評価

    TOF-SIMSにより光ファイバーの材料の定性・分布評価が可能です

    純物の有無、密着性、被覆状態、付着物などを分析することが重要となります。光ファイバーは、大きく分けてプラスチック製、石英製の2つがあります。本資料では、TOF-SIMSでプラスチック製光ファイバーの断面を分析することにより、コアおよびクラッドの材料を同定した事例を紹介します。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:光ファイバー・電子部品 分析目的:定性評価、有機物評価、組成分布評価 「詳...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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