SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view故障解析

SEM像の3D化でリークパスを確認

裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについて、Slice＆Viewによる断面SEM観察を行いました。Slice＆Viewでは、リーク箇所周辺から数十nmオーダーのピッチで断面観察を行うことにより、リーク箇所を逃さず画像として捉えることが可能です。SEM画像を3D化することで...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

人間・生活工学による歩き方の質評価（着て使う衣料）

質の高い歩き方とはどのような歩き方なのか。また、衣料によって歩き方がど…

体組成計DC-320 を用いて、下記の項目に関する計測を行います ・体重・体脂肪率・筋肉量 ■シルエット 　アナキンシステムを用いて、人の体表面点群データを計測し、そのデータを用いて、矢状面の断面形状を計測します ■筋負担 　下記の筋負荷を筋電位で計測します ・脊柱起立筋・大殿筋・大腿直筋・ハムストリングス・前脛骨筋・腓腹筋・拇指外転筋 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社HALデザイン研究所

【分析事例】バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析

深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました

深層学習により、画像から目的の対象物を抽出することが可能です。また、得られた対象ごとに領域を解析することで数値として情報を得ることができます。 今回、バッテリー正極材の断面SEM像に対して、深層学習を用いて活物質粒子の抽出、クラックの検出をしました。Slice&Viewデータのような3Dデータに対しても同様に抽出が可能です。3Dデータからクラック有、クラック無粒子を抽...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

半導体分析

各種半導体の様々な目的に合わせて、各種手法で分析が可能！

半導体材料分析項目 原子レベルの構造観察、結晶構造、転位密度、膜厚 表面形状、断面構造(膜厚) 結晶性(面方位)、積層膜の周期構造 表面組成、結合状態、深さ方向分布 不純物濃度、深さ方向分析 結晶構造、応力歪 構成元素、組成 表面のヤング率、硬度...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター