• 技術資料『JIS規格「分銅」と製造工程の紹介』 製品画像

    技術資料『JIS規格「分銅」と製造工程の紹介』

    PRJIS分銅の製造から市場供給までの流れをご紹介。JIS規格の概要も解説

    当社は、質量計測を主軸とし、天びん・分銅の製造や校正サービスを手掛けています。 100年以上にわたって蓄積したノウハウを元に、高度な技術が求められる 機械式はかりの組立や、1μgレベルの高精度な質量調整・校正が可能です。 本資料では、分銅の信頼性を担保する「JISマーク付き分銅」について紹介。 精度等級や特性評価基準などのほか、製造・検査工程などを紹介しています。 【掲載内容(一...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社村上衡器製作所

  • ハンディタイプ高精度デジタル温度計 Model: CTP1500 製品画像

    ハンディタイプ高精度デジタル温度計 Model: CTP1500

    PR小型軽量のハンディタイプ温度計。高精度±0.05℃。単三乾電池駆動。校…

    ◆製品概要 CTP1500はハンディタイプの温度計としてコンパクトながらも優れた精度を持ち、様々な用途や場所での測定が可能です。- 20 ... +180 °Cの範囲で±0.05 °Cの精度を達成しています。この高い精度により、バイオテクノロジーや医薬、食品業界など様々な産業における基準温度計としても活用することが可能です。 ◆製品特徴 CTP1500は小型軽量であるため、簡単に持ち運びをするこ...

    メーカー・取り扱い企業: ビカ・ジャパン株式会社

  • 光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』 製品画像

    光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

    電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

    『ウエハレベル光素子特性測定装置』は、VCSELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュア...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • VCSEL/LED用ウエハレベル発光素子計測システム 製品画像

    VCSEL/LED用ウエハレベル発光素子計測システム

    さまざまな電気・光学特性をウエハレベルで測定可能!

    シナジーオプトシステムズ株式会社の「VCSEL/LED用ウエハレベル 発光素子計測システム」は、VCSEL/LEDなどの発光デバイスをウエハ状態で 解析するシステムです。 各種測定器との組み合わせにより、発光素子のさまざまな電気・光学特性を ウエハレベルで測定するシステムを構築することが可能です。 お客様の要望仕様により、プローバの選定、測定光学系・測定ソフトウエアの...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』 製品画像

    高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』

    複数の光計測を実現!多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光…

    計測を実現できるほか、目的に応じたさまざまな光学計測用 コンポーネントを増設可能で、計測目的や計測項目、計測タクト等、使用目的 にあわせた光学計測ユニットを容易に構築することが可能です。 測定対象や測定に使用する波長にあわせて最適なレンズや光学部品を選択・ 装着することができ、これにより、最適な光学条件で各種測定を行うことが 可能です。 【特長】 ■光計測用光ファイバ接続用ポ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 応用システム『エンサークルドフラックス計測システム』 製品画像

    応用システム『エンサークルドフラックス計測システム』

    モード伝播を迅速に評価・測定するシステム!

    イバの性能評価において特に重要なモード分布の解析が 可能なシステムです。 光ファイバのNFP(ニアフィールドパターン)を解析することにより、 マルチモードファイバのモード伝播を迅速に評価・測定します。 また、オプションにより、当社製限定空励振光学系との組み合わせにより、 照射N.Aや照射ビーム径を変更することが可能です。 【特長】 ■標準化パラメータ測定機能 ■照射条件...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』 製品画像

    ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

    5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…

    これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に 計測することができ、また、微動ステージと組合せて、光学系を焦点方向に 移動させることにより、ビーム形状の出射方向の変化を測定することも可能 です。 【特長】 ■高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ■最大20倍の観察光学倍率 ■同軸落射照明ポートを標準装備 ■同軸落射照明装置(オプション)と...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 『M-Scope typeC/コリメート光調整システム』 製品画像

    『M-Scope typeC/コリメート光調整システム』

    検出器の選択により可視・近赤外まで対応可能!

    【主な仕様】 〔コリメータ計測光学系〕 ■焦点距離:150mm(打ち合わせにより変更可能) ■計測角度:約±1.2°(横)×約0.9°(縦) ■測定角度分解能:約0.01° ■レンズマウント:Cマウント 〔ソフトウェア解析機能〕 ■画像取込・処理機能  ・ライブ画像表示  ・画像積算  ・暗電流補正  ・画像データ保存・読出 ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』 製品画像

    光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

    光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能!

    1550nm近赤外波長帯まで さまざまなシステム構築が可能です。 【特長】 ■高機能NFP計測光学系 M-Scope type Sを使用 ■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能 ■光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせにより、 さまざまな光デバイスの計測・解析が可能 ■低価格でシステム構築も可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

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