• カールフィッシャー法 水分測定技術セミナー 製品画像

    カールフィッシャー法 水分測定技術セミナー

    PR5年ぶりに対面式の復活!職場で今すぐ使えるポイント教えます

    日東精工アナリテック株式会社は、対面形式での水分測定技術セミナーを 5年ぶりに開催いたします。 カールフィッシャー(KF)水分測定法へのご理解をさらに深めて いただくために、KF法の原理、KF試薬の選び方、日常のメンテナンスに ついての解説やアプリケーション例と合わせて詳しくご紹介いたしますので 皆様の奮ってのご参加を心よりお待ちしております。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問...

    メーカー・取り扱い企業: 日東精工アナリテック株式会社

  • Luminex xMAP INTELLIFLEX System 製品画像

    Luminex xMAP INTELLIFLEX System

    PR【キャンペーン実施中】迅速でコストパフォーマンスに優れたイムノアッセイ…

    Luminex xMAP INTELLIFLEX Systemは、コンパクトで広いダイナミックレンジを実現します。タッチスクリーンのユーザーインターフェースを備え、スタートアップ、シャットダウン、メンテナンスが自動化されているため使いやすく、メンテナンスも簡単。この他、2つのパラメーターで測定可能なDR-SEモデルをはじめ、Luminex 200 Instrument System、Luminex...

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    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • 【技術資料】分光エリプソメーター測定原理~偏光とは? ※資料進呈 製品画像

    【技術資料】分光エリプソメーター測定原理~偏光とは? ※資料進呈

    偏光・エリプソメーター・ブリュースター角など!図やグラフと共に分かりや…

    当資料は、分光エリプソメーターの測定原理についてご紹介しています。 電場および磁場の振動方向が規則的な光のことをいう「偏光」をはじめ、 エリプソメーターの原理、光学干渉についてなどを掲載。 図やグラフと共に分かりやすくご紹介...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 薄膜評価装置『分光エリプソメーター』 製品画像

    薄膜評価装置『分光エリプソメーター』

    【デモ可能】化合物半導体材料の組成比の評価も可能!非接触・非破壊でエピ…

    『分光エリプソメーター』は、非接触・非破壊でエピ膜を含む薄膜の膜厚値、 屈折率、消衰係数を精度良く測定する薄膜評価装置です。 化合物半導体材料の組成比の評価も可能。 主な評価・測定項目は、“薄膜の膜厚値”、“エピ膜厚値”、“屈折率”、 “消衰係数”、“化合物半導体の組成比”、“ドーパン...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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