• 多機能型 摩擦測定機 TL201Tt (摩擦試験機/触覚測定機) 製品画像

    多機能型 摩擦測定機 TL201Tt (摩擦試験機/触覚測定機)

    PR独自開発の触覚接触子を使用すれば、しっとり さらさら などの触覚、質感…

    『多機能型 静動摩擦測定機 TL201Tt』は、測定に応じて4つのパターンに構成可能。 摩擦係数の測定はもちろんアタッチメントを変えることによって今まで測れなかった様々なサンプルに対応。 ●テーブル移動型 ●測定部移動型 ●測定部上下移動型(オプション) ●回転ディスク型(オプション) 【特長】 ■高精度で低価格を実現 ■シングルモードで摩擦測定 ■リピートモードで耐摩耗測定...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社トリニティーラボ 中央事業所

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    ハンディタイプ高精度デジタル温度計 Model: CTP1500

    PR小型軽量のハンディタイプ温度計。高精度±0.05℃。単三乾電池駆動。校…

    ◆製品概要 CTP1500はハンディタイプの温度計としてコンパクトながらも優れた精度を持ち、様々な用途や場所での測定が可能です。- 20 ... +180 °Cの範囲で±0.05 °Cの精度を達成しています。この高い精度により、バイオテクノロジーや医薬、食品業界など様々な産業における基準温度計としても活用することが可能です。 ◆製品特徴 CTP1500は小型軽量であるため、簡単に持ち運びをするこ...

    メーカー・取り扱い企業: ビカ・ジャパン株式会社

  • [TOC]全有機体炭素測定 製品画像

    [TOC]全有機体炭素測定

    TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量(IC:を…

    nic Carbon)、無機体炭素量(IC:Inorganic Carbon)を評価することができる装置です。 ・有機成分含有量を全有機炭素量(TOC)として評価可能 ・液体試料と固体試料の測定が可能 ・全炭素量(TC:Total Carbon)、無機体炭素量(IC:Inorganic Carbon)の測定が可能...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 放射線測定サービス 製品画像

    放射線測定サービス

    工業製品・大気中・水・食品など、放射線の測定はおまかせください

    製品の出荷前検査や輸出品など、放射線量を測定し報告書を作成いたします。英文の報告書も作成可能です。 検体ごとに適切な測定機器をもちいて測定を行います! 【輸出コンテナや製品からの放射線量率を確認】 【食品の放射能を測定】 【田畑な...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ECLIA法による免疫関連項目の測定 製品画像

    ECLIA法による免疫関連項目の測定

    甲状腺関連項目、腫瘍マーカー、感染症などの測定が可能です

    ヒトの血液や尿などに存在するたんぱく質やホルモンを、高感度・高精度で迅速に測定します。 ECLIA法(電気化学発光免疫測定法)は、化学発光性物質で標識した抗体(抗原)に磁性粒子結合抗体(抗原)を反応させ、この免疫化合物をTPA(Tripropylamine)存在下の電極上で...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 蛍光寿命測定 製品画像

    蛍光寿命測定

    Fluorescence lifetime measurement

    物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に戻る際の過程の一つに発光(フォトルミネッセンス)があります。そのうち、パルスレーザーにより物質を瞬間的に励起し、発光の減衰時間を測定する手法が時間分解フォトルミネッセンスと呼ばれるものであり、得られたスペクトルを解析することにより、蛍光寿命を算出します。 物質の蛍光寿命を測定することにより発光過渡現象をよりダイナミックに把...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [DSC]示差走査熱量測定 製品画像

    [DSC]示差走査熱量測定

    DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評…

    量変化からサンプルの物性などを評価することができます。 ・ 融点・結晶化温度・ガラス転移温度・キュリー点・比熱などを確認することができます。 ・ 結晶化度・純度・反応速度及び結晶化速度などの測定に応用が可能です。 ・ 氷点下から測定できるため、自由水・結合水の評価が可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 極点測定 製品画像

    極点測定

    XRD:X線回折法

    極点測定は特定の結晶面に着目し、試料に対して様々な方向からX線を入射させることで結晶方位の分布を評価する方法です。検出器を着目の結晶面の回折角度(2θ)に固定し、α(試料のあおり角度)とβ(試料の面内回転角...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • X線CTを用いたin situ測定の 受託分析サービス 製品画像

    X線CTを用いたin situ測定の 受託分析サービス

    加熱/冷却や応力・圧縮の負荷状態での三次元構造観察が可能です。

    ●引張り試験 試料を引張る方向に応力を印加した状態でX線CT測定をすることが可能です。 ●圧縮試験 試料を圧縮する方向に圧力を印加した状態でX線CT測定をすることが可能です。 ●温度調節 ステージの温度を調節した状態でX線CT測定をすることが可能...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 絶対PL量子収率測定 製品画像

    絶対PL量子収率測定

    絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。

    絶対PL量子収率測定は、材料に吸収された光(エネルギー)に対し、どのくらいの効率で発光が得られるか、つまり材料の発光効率を求める手法です。 ・分光器付きの励起光源を用いているため、様々な波長(約350~800nm...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】低温フォトルミネッセンス測定の注意事項 製品画像

    【分析事例】低温フォトルミネッセンス測定の注意事項

    PL:フォトルミネッセンス法

    ・フォトルミネッセンス測定(PL測定) は室温の他に、クライオスタット内に試料を設置し、低温で実施することも可能です。低温測定は室温測定に比べピーク強度の増大やピーク半値幅が減少する傾向が見られるため、様々な準位についての知...

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  • 角度分解HAXPES測定 製品画像

    角度分解HAXPES測定

    HAXPES:硬X線光電子分光法

    HAXPESでは、試料表面から深い位置まで(~約50nm)の情報を得る事が可能です。さらに2次元検出器を用いた角度分解測定により、広い光電子取出角で取得したデータを、角度すなわち検出深さを変えた情報に分割することができます。これにより、非破壊でXPSよりも深い位置までの深さ方向結合状態比較が可能です。状態変化が極表面の...

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  • 【分析事例】発光寿命測定によるキャリアライフタイム評価 製品画像

    【分析事例】発光寿命測定によるキャリアライフタイム評価

    発光寿命からSiCのキャリアライフタイムについて知見が得られます

    スの電気特性をコントロールする上で重要です。 一方、発光寿命とは試料からの発光強度が1/eになるまでの時間を示し、発光減衰曲線から算出可能です。少数キャリアの一部は再結合時に発光するため、発光寿命測定から間接的にキャリアライフタイムの評価が可能です。本資料では4H-SiCエピ基板のキャリアライフタイム評価の事例を紹介します。 測定法:蛍光寿命測定 製品分野:パワーデバイス、LSI・メモリ、電...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SRA]広がり抵抗測定法 製品画像

    [SRA]広がり抵抗測定

    SRA:Spreading Resistance Analysis

    SRAは測定試料を斜め研磨し、その研磨面に2探針を接触させ、広がり抵抗を測定する手法です。 SRP(Spreading Resistance Profiling)とも呼ばれます。 ・ 導電型(p型/n型...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】発泡ゴムの引っ張り試験CT測定 製品画像

    【分析事例】発泡ゴムの引っ張り試験CT測定

    サンプル内部の形状変化をin situで測定・解析

    試料に応力(引っ張りもしくは圧縮)をかけた状態でX線CTによる内部構造分析を行うことが可能です。 本資料では、発泡ゴムを例として、通常状態と伸ばした状態においてin situ X線CT測定を実施し、取得したCT像から気泡の体積変化を解析しました。 in situ X線CT測定と画像解析技術を組み合わせることで、従来では評価が困難であった実使用条件下での評価や応力による製品への影響の...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SSDP用加工]基板側からの測定用加工 製品画像

    [SSDP用加工]基板側からの測定用加工

    基板側からの測定ができるように基板を削って薄片化

    元素分布を得られない場合があります。この問題を解決するために、薄片化加工を行った基板側(裏面側)からSIMS分析を行うのがSSDP法(Back-Side SIMS法)です。この手法により、試料形状や測定条件に起因する影響を受けることなく、より正確な元素分布評価が可能になります。...

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  • 分析事例】XRDを用いた負荷印加前後における金属材の残留応力測定 製品画像

    分析事例】XRDを用いた負荷印加前後における金属材の残留応力測定

    非破壊で引張・圧縮応力を定量することが可能です

    残留応力測定は部材が様々な応力条件下に耐えられるかを調べる重要な方法の一つです。XRD(X線回折法)では、格子面間隔を測定することで残留応力を求めることが可能です。本資料では引張試験用にアルミニウム板の左右をV...

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