粉体層せん断力測定装置『NS-Sシリーズ』

粉体の流動性評価に好適な装置登場！高精度で再現性のよい評価が可能！

『NS-Sシリーズ』は、粉体原料、中間製品の粉体物性（流動性、内部摩擦角、 付着性、応力緩和性）について高精度で再現性の良い評価ができる、 粉体物性評価装置です。 粉体層せん断力測定装置は、粉体層の縦方向圧縮力と横方向せん断力を同時に 測定することによって、様々な力学的な粉体物性を評価できます。 さらに、受託測定の分析データをお渡しいたします！（※有償） 【特長】 ■わず...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ナノシーズ

【分析事例】吸水性ポリマーを加熱した際に発生する水の定量

吸水性ポリマーとして知られるナイロン 6 の表面に付着した水と熱分解時…

TG-MS（熱重量-質量分析）法は、試料の TG-DTA（熱重量示差熱分析）測定で発生したガスをオンラインで MS（質量分析計）へ導入し、ガスを分析する手法であり、試料の熱分解挙動、発生ガス種、およびこれらの発生温度範囲の情報を得ることができます。また、標準物質の検量線を作成し、それを用いることで発生ガスの定量を行うことができます。 【分析試料】ナイロン 6（PA6） 【分析装置】TG-DTA...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社カネカテクノリサーチ 本社、東京営業所、名古屋営業所、大阪分析センター、高砂分析センター

【分析事例】ポリイミドの熱分解挙動の分析（TG-MS）

ポリイミドの熱分解挙動を分析した事例を紹介します。

TG-MS（熱重量-質量分析）法は、試料の TG-DTA（熱重量示差熱分析）測定で発生したガスをオンラインで MS（質量分析計）へと導入し、ガスを分析する手法であり、試料の熱分解挙動、発生ガス種、およびこれらの発生温度範囲の情報を得ることができます。また、試料観察機能を用いることで昇温加熱時の試料の形状や色の変化をリアルタイムで観察することができます。 【分析試料】ポリイミド（PI）フィルム ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社カネカテクノリサーチ 本社、東京営業所、名古屋営業所、大阪分析センター、高砂分析センター

【分析事例】部材の有機汚染分析

TD-GC/MSにより部材に付着した微量の有機汚染を分析します。

精密機器や真空装置、半導体製造装置においては、用いられる部材の汚染により製品の品質や装置の安定稼働に悪影響を及ぼすことがあります。本事例では種類の異なる使い捨て手袋でガラス部材を扱い、ガラス部材に付着した有機汚染を発生ガス濃縮装置を用いたGC/MS分析によって分析しました。部材の汚染を評価することで、不具合の原因となる部材の特定や部材汚染の原因の除去、部材変更の検討などに役立てることができます。....

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【技術資料】粉体のハンドリングにおけるトラブルで困ってませんか？

日頃の現場・開発で粉体を扱う技術者が必要とする「基礎的な知識とトラブル…

技術資料『製品開発に役立つカイゼンの指標』は、通常業務で粉体を扱う技術者が必要とする基礎的な知識とトラブルに対する基本的な取り組みをわかりやすく解説した技術資料です。 測定装置で、皆様の研究開発のお役に立てる測定・技術の提供を行っている『ナノシーズ』だからこそ持っている知識、ノウハウ、多角的な視点で解説！ 【こんなお悩みありませんか？】 ■現場(開発・工場共に)で、粉体(原料・ 製品...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ナノシーズ

電子機器のOEMが得意です　エッチ・エム・イーグループ

開発/設計/製造を全ておこなえます

(分析・計測器) 超純粋製造装置(ミリポア) プランジャーポンプ 恒温高湿槽室 吸光光温計 圧力計 (電子計測器) デジタルマルチメーター デジタルオシロスコープ 電圧電流発生装置 基準抵抗率器(10-3Ω～1130Ω) 静電器試験器 電源電圧変動試験器 周波数カウンタ...

メーカー・取り扱い企業： エスエスシー株式会社

【分析事例】表面分析による品質管理

表面の付着成分(ポリジメチルシロキサンなど)をTOF-SIMSで評価で…

TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析法)は、最表面の有機物・無機物を感度よく評価可能な手法で、製品の様々な品質管理を行うときの分析手段として利用することができます。例えば、製品保管時の表面付着物の定期的な確認、製品に剥離・変色などの不具合品が発生した際の原因調査、製作条件を変えた前後での着目成分の変化などです。本資料では、付着成分として代表的なポリジメチルシロキサン（PDMS）について、...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定

ICP-MS, GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析

半導体材料に含まれる不純物は、リーク電流の発生やデバイスの早期故障等、製品の品質に影響する場合があります。従って、材料に含まれる不純物量を把握することは、製品の品質向上において重要です。本資料では、パワーデバイス材料として注目されているSiC基板について、基板表面に付着した不純物をICP-MS、基板中の不純物をGDMSで分析した事例をご紹介します。 測定法：ICP-MS・GDMS 製品分野：パ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

初心者向けオンライン講座(e-learning)【無機分析】

無機分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 蛍光X線分析、ICP-O…

無機分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 ・無機分析とは ・主要な分析手法の比較（特徴、長所、短所） 蛍光X線分析(XRF)、ICP発光分光分析(ICP-OES)/ICP質量分析(ICP-MS)、 イオンクロマトグラフィー(IC)：原理と装置、試料、測定の流れ、スペ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター