【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察した事例をご紹介します。...詳しいデータ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【無料サンプルお送りします】導電性樹脂『マリポーサＦ』低価格！

電子顕微鏡での観察用の導電性のカーボン入りフェノール樹脂です。低価格を…

マリポーサＦは熱硬化性の導電性埋め込み樹脂です。 大量生産されているフェノール樹脂を原材料にすることで、高価格の導電性樹脂の低価格化に成功しました。 ブラックカーボンを含有し電子顕微鏡観察に必要な導電性を有しています。 【特長】 ◆導電性があり電子顕微鏡での観察が可能 ◆低価格でランニングコストを大幅削減 ◆１kg からの購入が可能 ★Amazonで...

メーカー・取り扱い企業： ハルツォク・ジャパン株式会社

エレクトロニクス･半導体業界向け硬さ･弾性率･粘弾性評価

セミコンダクタ・スマートフォンなどの研究開発のためのナノインデンテーシ…

エレクトロニクス･半導体産業では製品開発のためにナノインデンテーションテスタによる表面機械特性評価が用いられます。 微小荷重にてダイヤモンド圧子を対象サンプルに押し込むことにより、硬さ・弾性率・粘弾性・貯蔵弾性率・損失弾性率・クリープ率などの物性値を測定することができます。 ナノインデンテーション試験では数百ナノ～数百ミクロンの薄膜や柔らかいポリマーの評価が可能です。 測定例 -スマー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アントンパール・ジャパン

グラフェンTEMグリッド

親水化処理を施すことにより非常に薄く均一な厚さの氷の層を形成できます！

当製品は、清浄度の高いCVD合成の2層グラフェン自立膜による画期的な TEMグリッドです。 超微粒子、ウィルスなどの透過電子顕微鏡観察用試料支持膜として好適。 親水化処理を施すことにより非常に薄く均一な厚さの氷の層を形成できます。 また、親水化処理済みのグラフェンTEMグリッドの提供も可能です。 【特長】 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エアメンブレン

【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較

着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です

走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope：SEM）及び走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は、どちらも二次電子像を得ることで試料表面近傍の...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST