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最終更新日:2022-06-10 17:56:47.0

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ENGINEERING PROBE SYSTEM 【製品カタログ】

基本情報ENGINEERING PROBE SYSTEM 【製品カタログ】

不良解析・高周波測定などに適した測定ソリューションをご提案!【無料進呈中】

当カタログは、半導体デバイスのオンウェハ測定に特化した
プローブステーションメーカーのベクターセミコン株式会社が
取り扱っている製品を多数掲載しています。

すぐに測定を始められるアクセサリを含んだ低価格パッケージ製品
「IMPACT(TM)テストソリューション」をはじめ、高剛性、高精度、優れた
操作性を兼ね備えた「DC/RF測定マニュアルシステム」などをラインアップ
しています。

【掲載内容(抜粋)】
■IMPACT(TM)テストソリューション
■DC/RF測定マニュアルシステム
■ミリ波、THZ測定マニュアルシステム
■8インチウェハ セミオートシステム
■ハイパワー測定システム

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

プローバー『フルオートシステム』

プローバー『フルオートシステム』 製品画像

当社では、『フルオートシステム』を取り扱っています。

「TS2500-RF」は、オンウェハRF測定のために設計された
新型フルオートプローブシステムです。

最大200mmサイズウェハに対応しており、室温から最大300℃の温度範囲で
低ノイズ、低リーク測定が可能です。

この他に、12インチウェハ対応の「TS3500/TS3500-SE」もご用意しております。

【特長】
<TS2500-RF>
■67GHzまでのプローブを4port搭載可能
■DC-IV/DC-CV/Pulsed-IVなど様々な測定にも対応
■最小50umまでのウェハを取り扱うことが可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る

IMPACT(TM)テストソリューション

IMPACT(TM)テストソリューション 製品画像

『IMPACT(TM)』は、すぐに測定を始められるアクセサリを含んだ
低価格パッケージ製品です。

パッケージ製品でありながら、アプリケーションや個々の測定に合わせた
自由度を持ち合わせております。

大学、政府機関、研究機関などのDC/CVおよびRF測定ニーズに見合った
製品となっております。

【特長】
■すぐに測定を始められる
■アクセサリを含んだパッケージ製品
■アプリケーションや個々の測定に合わせた自由度がある
■周波数が高くなる場合は40GHz、50GHz、67GHzオプションを
 ご選択いただくことにより、より高い周波数での測定が可能

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パワーデバイス評価用プローバー

パワーデバイス評価用プローバー 製品画像

当社では、『パワーデバイス評価用プローバー』を取り扱っています。

「TS150-HP/TS200-HP」は、10kV耐圧測定・250A(パルス)電流測定など、
パワーデバイス測定に特化したマニュアルプローバーです。

最大10kV耐圧仕様の300℃サーマルチャックシステムを搭載できます。

この他に、コストパフォーマンスに優れた「TS2000-DP」や、安全機構を
搭載した「TS2000-HP」もご用意しております。

【特長】
■パワーデバイス測定に特化したマニュアルプローバー
■チップサイズから最大6インチウェハサイズまで対応(TS150-HP)
■チップサイズから最大8インチウェハサイズまで対応(TS200-HP)
■安全を考慮した測定環境を構築可能

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ShielDEnvironmentマニュアルシステム

ShielDEnvironmentマニュアルシステム 製品画像

ShielDEnvironmentマニュアルシステム『TS200-SE』は、EMI対策、
RFI対策、遮光に優れた設計がされており、様々な測定に対応した
高低温温調対応機種です。

温調システムとの組み合わせで、最大範囲-6~300℃の温度範囲で
低ノイズ、低リーク測定が可能です。

【特長】
■「TS200-SE」
 ・最大8インチウェハ対応
 ・低ノイズ、低リーク測定が可能
■「TS300-SE」
 ・最大12インチウェハ対応
 ・様々な測定やセッティングに対応可能な広いプラテン
 ・操作性に優れたXYステージコントロール(ロック機能付)
 ・大型ながら容易な操作が可能 

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セミオートプローバー『12インチウェハ セミオートシステム』

セミオートプローバー『12インチウェハ セミオートシステム』 製品画像

当製品は、最大12インチウェハ対応の、高性能セミオートプローバーです。

「TS3000-SE」は、微小電流測定やセミオート機では難しかった、1/f測定
などの様々な測定に対応しておりながら、低コストで導入可能な革新的
モデルです。

チラーユニットを含め、非常に小さなエリアでの設置が可能です。

【特長】
■「TS3000」
 ・プローブカードとポジショナーの同時設定が可能
 ・不良解析や信頼性試験、RF測定、ロードプル測定などに好適
 ・広い開口を保持しながら低温環境下での測定にも対応
■「TS3000-SiPH」
 ・シリコンフォトニクスデバイスの特性評価用に設計
 ・高い柔軟性の高精度ファイバーアライメントシステム
 ・安全な動作が可能

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ミリ波、THZ測定マニュアルシステム

ミリ波、THZ測定マニュアルシステム 製品画像

ミリ波、THZ測定マニュアルシステム『TS150-THZ』は、アンプ、
コンバーター、ミリ波モジュールを用いたミリ波やサブミリ波の測定に
特化した製品です。

測定システムのセットアップを簡易化し、非常に優れた精度と
再現性により、VNAの最高クラスのパフォーマンスを引き出します。

【特長】
■1.5THz帯までの幅広い周波数の計測器エクステンダと
 プローバーのシームレスな統合
■測定システムのセットアップを簡易化

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8インチウェハ セミオートシステム

8インチウェハ セミオートシステム 製品画像

当製品は、様々な測定ニーズに対応するセミオートプローバーです。

「TS2000-SE」は、高性能、超低ノイズ、高精度でありながら
テストコスト削減のもとに設計されました。

微小電流測定、高い信頼性のDC/IV測定、1/f測定、RF測定、パワーデバイス
測定など、すべてにおいて最高クラスのパフォーマンスを発揮します。

【特長】
<TS2000-SE>
■最大8インチウェハに対応
■EMI対策、RFI対策、遮光に優れた設計
■ウェハのロード・アンロードを自動で行う
■最大-60℃~300℃の温調が可能

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DC/RF測定マニュアルシステム

DC/RF測定マニュアルシステム 製品画像

DC/RF測定マニュアルシステム『TS150』は、様々な用途で使用でき、
金属顕微鏡やレーザーシステム搭載など、カスタマイズが可能な製品です。

室温から300℃までの温調システムを搭載可能。

スタンダードタイプの「TS150」「TS200」「TS300」の他、
小卓上タイプの「TS-50」などのラインアップをご用意しております。

【特長】
■「TS150」「TS200」「TS300」
 ・直感的な操作
 ・簡単で便利
 ・高精度な測定
■「TS-50」
 ・場所をとらない省フットプリント設計(300×300mm)
 ・無駄のない構成・設計
 ・迅速なセットアップが可能

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取扱会社 ENGINEERING PROBE SYSTEM 【製品カタログ】

ベクターセミコン株式会社

■半導体、液晶パネル業界向けの  研究開発用に特化したプローバーの製造、販売、サービス

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