次世代コンテンツ保護規格「 SeeQVault 」変換アダプター！ 『SQVA』は、SeeQVault未対応のストレージデバイスを、SeeQVault対応 のストレージデバイスに変換するためのアダプターです。 「SQVA-SATA」、「SQVA-USB」をご利用いただくことで、お客様のSee QVault対応製品の開発工数を削減できます。 SQVAに搭載されるLSI MLDU3L は、SeeQVault 対応USB-SATA 変換LSI として、USB3.0 (5Gbps)に対応しています。 【特長】 ■ハードディスクに取り付けるだけですぐにSeeQVault対応ハードディスク 　の開発・評価が可能 ■コンパクト設計 ■SeeQVaultハードディスクならではのメリットをフル活用できる ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ハンディタイプシート抵抗測定器！ 『DUORES（デュオレス）』は、持ち運びも測定実施も簡単な、ハンディ タイプシート抵抗測定器です。 測定する対象に合わせ、2種のプローブ（非破壊式・接触式）を交換使用。 プローブを載せるだけ、当てるだけで自動測定いたします。 お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 また、本体＋非破壊式プローブのみ、本体＋接触式プローブのみでも販売 しております。 【特長】 ■接触式 ■2プローブ交換使用 ■ハンディタイプ ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。

基板の小型化に貢献する低発熱の電流センサー！ "Currentier" は、高感度ホール素子内蔵の磁気式コアレス電流センサー IC です。 コアレスタイプでありながら、クローズドループ並みの高精度を実現します。 一般的なシャント方式と比較すると、 １．一次導体の抵抗値が0.27mΩと低く（発熱を抑制できる）、 ２．一次側の電源が不要なため基板サイズを大幅に低減することができます。 また、幅広い電流レンジをシリーズごとに同一パッケージでラインアップしたことで、部品や基板の共通化が可能となりました。 【特長】 ・大電流の連続通電が可能（50/60/100A） ・沿面/空間距離：≧8mm （UL61800-5-1 に準拠） ・安全規格： UL1577 及 IEC/ UL62368-1 認定取得 ・総合精度：±0.4%F.S.（Ta=0~90℃ Typ.）※CZ370xシリーズ ・応答性： 1μs Typ.　※CZ370xシリーズ ・外乱磁場抑制機能を内蔵 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

SSDの開発やNANDコントローラの開発・評価に最適な評価基板 本製品は、アルテラ(Altera)社StratixIII FPGAとNANDフラッシュ メモリ、DDR SDRAM、NORフラッシュメモリ、SATA2.6インター フェースを標準で搭載し、SSDの開発やNANDコントローラの開発・ 評価に適したFPGAボード/FPGA評価基板です。 アルテラ社製StratixIIIのデバイスはEP3SL110F1152やEP3SE80F 1152など、7つから選択可能。 また、SSD開発用にNAND解析システム（SigNAS）やSSDコント ローラLSI、SSDコントローラ用F/Wなどのソリューションもご用意 しておりますので、お気軽にお問い合わせ下さい。 【特長】 ■アルテラ社製StratixIIIを搭載 ■アルテラ社製StratixIIIは7つのデバイスより選択可能 ■ザイリンクス社製Virtex‐5（XC5VLX20T）を搭載 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

卓上で-55℃～150℃までの高精度な温度制御が可能！小型の温調機 『PELNUS』は、熱抵抗値をまるごと測定するデスクトップ温調機です。 メンター・グラフィックスの動的熱特性評価装置「T3Ster（トリスター）」 と本製品を組み合わせれば、熱抵抗値を高精度に測定することが可能。 温調ステージ自体の温度を直接コントロールするので、サンプルの温度を 正確に変化させることができます。 また、PCに接続し連携制御も可能となっています。 【特長】 ■様々な用途で利用可能 ■熱抵抗値をまるごと測定 ■PCに接続し連携制御可能 ■高速に-55℃～150℃までを温度制御 ■一定の荷重でサンプルを押し付ける事で優れた再現性を実現 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

P型、N型、P型、N型の順に半導体を接合！4層構造の半導体デバイス 『サイリスタ』は、シリコン整流素子に制御電極を設けた 半導体素子で、シリコン制御整流器(SCR)とも呼ばれています。 ゲート端子の電圧を変化させることによって、電流を制御。 これにより、電車や鉄道などの輸送機器から送配電装置まで、 様々な分野における電力制御回路に使われています。 【ラインアップ(抜粋)】 ■Littelfuse シリコン制御整流器 NYC0102BLT1G ■ルネサス サイリスタ CR5AS-12#B00 ■Vishay 制御可能ブリッジ整流器 VS-VSKH142/12PBF ■Dynex サイリスタ DCR750D22 ■STマイクロ サイリスタ TN2540-800G-TR ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい

自動車産業や工業分野で幅広く使用！エンコーダ・エミュレーションなどに好適 『レゾルバ/デジタルコンバータ』は、レゾルバ信号をデジタル絶対位置 角度信号に変換するコンバータICです。 レゾルバは回転軸の角度位置や速度を電気信号に変換する信号処理回路で、 軸角度の正弦や余弦に比例する信号を出力。R/Dコンバータ(RDC)はこれらの 信号を、軸角度や速度に対応するデジタル出力に変換します。 障害検出センサを搭載して、レゾルバ信号の損失、範囲外の入力信号、 入力信号の不一致、位置追跡の損失を回路で検出できるようにしている ものもあります。 【用途】 ■エンコーダ・エミュレーション ■スタータ発電機/オルタネータ ■車載モーション検知・制御 ■DC/ACサーボモータ制御 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

光学式と遜色ない角度精度±0.1°を実現する磁気式エンコーダ、組付け簡単！防塵対策も不要！（光学式からの切替実績多数あり） AK7455 は、IC 表面に印加される平行磁場を検出し、絶対角度を出力する磁気式回転角度センサーです。 当社独自の補正技術により角度精度±0.1°を実現します。 高い応答性も有しており、加減速時の追従性も良好でサーボ制御に好適です。 また、光学式と比較して「組付けが簡単」かつ耐環境性に優れるため「クリーンルームなどの防塵対策も不要」です。 ※光学式からの切替実績多数あります！ 【特長】 ・実装ずれに対する優れた耐性（ラフな組付けでも検出可能） ・クリーンルームなどの大規模な生産設備が不要 ・耐環境性に優れ、劣悪な環境下でも使用可能 ・角度精度±0.1°(補正実施時） ・ 25,000rpm までの高速回転に追従 ・軸貫通型/中空型モータに対応（Off-Axis配置） ・絶対角度検知により、システムの原点復帰動作不要 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

単結晶ドメインは1mm以上も可能！グラフェンマスター社のグラフェン 『単結晶グラフェン』は、任意の基板に転写でき、単層から複層まで基板 への全面転写技術を有するオランダのグラフェンマスター社のグラフェン です。 前処理済みグラフェンを使用目的に応じて加工したり、標準品として h-BN・TEMグリッド・クオーツ等の基板上の単結晶グラフェンの製造も 行っております。 任意の基板に転写可能で、単層から複層まで基板への全面転写も可能です。 【特長】 ■任意の基板に転写可能 ■単層から複層まで基板への全面転写も可能 ■前処理済みグラフェンを使用目的に応じて加工可能 ■標準品としてh-BN、TEMグリッド、クオーツ等の基板上の 　単結晶グラフェンの供給可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

抵抗率（比抵抗）／シート抵抗の簡易測定用4探針法測定器 『RT-70Vシリーズ』は、測定テスター（RT-70V）と測定ステージの 組み合わせ測定器です。 接触式のため、針状のプローブヘッドをサンプルに接触させ測定実施します。 「RT-70Vテスター」は、JOGダイアルによる簡単な操作で厚さ・温度・PN入力 をすることができます。 お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 【特長】 ■接触式 ■マニュアルタイプ ■1点観測システム ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。

システムの拡張性を広げることが可能！デバイスを複数同時に使用できます 『I/Oエキスパンダ』は、I2CバスやSPI等のインターフェースです。 マイクロコントローラから制御される半導体デバイス、マイクロコントローラ との組み合わせによってシステムの拡張性を広げることが可能。 1つのポートに接続して、その他のデバイスに対し複数の接続ポートを提供する ことによりデバイスを複数、同時に使用できます。 【ラインアップ(抜粋)】 ■マイクロチップ MCP23017-E/SP ■Texas Instruments PCF8574AN ■NXP PCA9698DGG,512 ■マイクロチップ MCP23008-E/SS ■NXP PCF8574TS/3,112 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

低～中電力の半ラッチソリッドステートスイッチ！順方向・逆方向の電流を導通させる 『トライアック』は、3端子をもつ半導体スイッチング素子の一種です。 双方向の電流を1つのゲートの電極で制御してスイッチングを行うことが可能。 トランジスタやダイオードなどの他のデバイスとは異なり、トライアックは 双方向で動作するため、正弦波の両半分の電流を制御できます。 これにより、交流の1/2サイクルで動作させることで交流の電力制御を 行うことができます。 【ラインアップ(抜粋)】 ■STマイクロ, トライアック BTA24-600CWRG ■WeEn Semiconductors Co., Ltd トライアック BT136-600E,127 ■サンケン電気 トライアック TMA166S-L ■Littelfuse トライアック BTA16-600CW3G ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

様々な回路や電源に広く使われている電子部品！主電源からの交流入力を直流出力に変換 『ブリッジダイオード』は、ブリッジ接続された4個又は6個のダイオードを ひとつのパッケージにしたダイオードモジュールです。 交流を直流や脈流に整流するために使用するので、ブリッジ整流器とも 呼ばれる製品。50/60Hzの商用周波数を整流することを目的に作られたもの が多く、ダイオードの一種として一般整流ダイオードが多く用いられています。 スイッチング電源の二次側など高周波数に用いる場合は、ファストリカバリー ダイオード、ショットキーバリアダイオードなど速い動作に適したダイオード を使用します。 【ラインアップ(抜粋)】 ■Vishay 整流用 ブリッジダイオード W02G-E4/51 ■新電元工業 整流用 ブリッジダイオード S15VT60-4000 ■HY Electronic Corp 整流用 ブリッジダイオード KBPC5010 ■Taiwan Semiconductor 整流用 ブリッジダイオード GBPC5010 T0 ■onsemi 整流用 ブリッジダイオード MB6S ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

市販品の中では最も単純で コスト効果の高いプログラマブルロジックデバイス 『SPLD』は、PLD (プログラマブルロジックデバイス)ファミリに属する コンパクトな半導体ICです。 デバイスは通常、I/Oが少ししか必要ない用途で使用されます。 シンプルな設計で、 ANDゲート、ORゲート、フリップフロップを備えた マクロセルを結合して構成されます。 【ラインアップ(一部)】 ■Microchip Technology SPLDシンプルプログラマブルロジックデバイス ・メーカー型番：ATF22V10C-7PX ・メーカー型番：ATF22V10CQ-15JU ・メーカー型番：ATF16V8B-15SU ・メーカー型番：ATF16V8BQL-15XU ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

半導体や、各種電子部品の高温度接合材料として適したダインゴールスター V！ 『ダインゴールスター V』は、幅広い組成範囲で、融点280±1℃と、 ユニークな溶融特性をもつ電気金-スズ合金めっき浴です。 本めっき浴は、弱酸性浴の為、pH5.5で、レジスト材に悪影響を 及ぼしません。また、経時安定性が良好な万能浴なので、バレル・ ラックなど、様々な用途に対応します。 高融点で、高温ハンダの代替が可能。Pbフリー化に貢献する 製品です。 【特長】 ■高融点 ■弱酸性浴 ■Pbフリー化に貢献 ■ユニークな溶融特性 ■高温ハンダの代替が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ウエハ搬送ロボット搭載による4探針法！全自動測定ソーター 『WS-8800』は、フルオートタイプ（全自動測定システム）の接触式 抵抗測定器です。 厚さ測定、PN測定、温度測定に対応可能です。（シリコンウエハ） カセット数はいくつでも対応することができます。 また、お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 【特長】 ■全自動 ■セルフテスト機能、広範囲測定レンジ ■厚さ・周辺位置・温度補正機能（抵抗率(比抵抗)測定） ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。

コンパクトで簡単操作の手動式非接触（渦電流法）抵抗測定器 『EC-80』は、プローブ間にサンプルを入れるだけで測定可能な、簡易 測定器です。 抵抗率/シート抵抗測定モードを簡単に切り替え出来ます。 また、JOGダイアルによる簡単な測定条件設定可能です。 プローブ固定式のため、ご購入の前に数タイプのプローブから1タイプを 選択となります。 お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 【特長】 ■非接触式 ■マニュアルタイプ ■1点測定システム ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。

組込用 非接触（渦電流法）シート抵抗測定モジュール（フィルムサンプル用） 『NC-700』は、PETフィルムなどの基材上の導電膜のシート抵抗を インラインで連続測定する測定器です。 必要なライン数（＝プローブ数）での製作が可能なため、研究開発から 生産ラインまで幅広い用途に対応します。 オフセットフリー仕様のため、測定値がシフトせずに最長24hの連続測定 ができます。 既設の搬送装置や成膜装置などへの取り付けにも対応。 また、お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 【特長】 ■インラインタイプ（非接触式） ■組込用測定モジュール ■幅広い用途に対応 ■最長24hの連続測定も可能 ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。

ウエハフラットネス測定システム！ 『FLA-200』は、非接触式のフラットネス・厚さ測定システムです。 ウエハサンプルのフラットネス(TTV、BOW、WARP)、厚さを測定します。 厚さ、TTV、BOW、Warp、サイトフラットネス、グローバルフラットネス の測定に対応 （ASTM準拠）しており、CSVファイルでのデータ出力も可能 です。 また、お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 【特長】 ■2-D,3-Dマッピング表示対応のソフトウエア ■5mmφコア静電容量式プローブによる、高精度測定 ■12,000点スキャン/60秒以内の高速測定 ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。

製品内基板上DRAMのリバースエンジニアリング 代表的なメモリであるDRAMについて製品レベルからTEM観察による素子微細構造解析まで一貫して分析します。 外観観察からレイヤー解析、Slice＆Viewを行うことで構造の全体像を把握し、FIB加工位置をナノレベルで制御し薄片形成後にメモリ部の微細構造をTEM像観察しました。

着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です 走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope：SEM）及び走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は、どちらも二次電子像を得ることで試料表面近傍の構造評価を行う手法です。一次プローブの違いによってコントラストの現れ方や空間分解能などの違いがあり、着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です。本資料では2手法の比較をまとめるとともに、測定例としてCu表面を観察した事例をご紹介します。

論理回路(カウンタ回路)には、フリップフロップが使われています！ 『カウンタIC』は、外部から入力されたクロックをカウントし、 その結果を出力するICです。 出力するデータの形式により、2進カウンタや10進カウンタなどに分類。 当製品を構成する論理回路(カウンタ回路)には、フリップフロップが 使われています。フリップフロップは1ビットの情報を記憶する機能があり、 この論理素子を組み合わせることにより、様々なラインアップが作られます。 【ラインアップ(抜粋)】 ■Toshiba シフト レジスタ HCシリーズ 8ステージ シフトレジスター ■Toshiba カウンタ IC HCシリーズ 12ステージ カウンター 単方向 ■Counter Single Async Decade 16-Pin PDIP ■Texas Instruments カウンタ IC 4000シリーズ 5ステージ カウンター ■Texas Instruments カウンタ IC HCシリーズ 5ステージ カウンター ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。