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一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】酸化アルミニウム薄膜の局所構造解析
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【分析事例】XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価
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【分析事例】注射針表面のコーティング膜評価
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【分析事例】三次元培養ヒト皮膚中インドメタシンの経皮吸収評価
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【分析事例】SiC Planer Power MOSFETのSCMおよびSMMによる拡散層評価
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【分析事例】PtRu触媒の雰囲気・温度制御下での金属価数評価
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【分析事例】Si-IGBTチップのキャリア濃度分布評価
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【分析事例】TDSによる脱離成分の推定
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【分析事例】HfZrOx膜の結晶構造同定・含有割合の算出
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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池特定結晶粒の評価
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【分析事例】XAFSによるシリコン酸化膜評価
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【分析事例】パワーデバイスのドーパントおよびキャリア濃度分布の評価
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【分析事例】固体高分子燃料電池電解質膜の劣化調査
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【分析事例】XPS多点測定による広域定量マッピング
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【分析事例】IGZO 薄膜の結晶性・膜密度評価
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【分析事例】粘着テープの残渣評価
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【分析事例】汚染原因となる工程の調査
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【分析事例】有機EL素子の劣化評価
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【分析事例】フッ素系潤滑剤・高分子の同定
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【分析事例】イオン注入及びアニール処理を行ったSiの低温フォトルミネッセンススペクトル
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【分析事例】樹脂中に存在している異物の評価
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【分析事例】骨断面の組成分布評価
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【分析事例】液体中微粒子の構造・分散具合評価
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【分析事例】表面酸化膜のある異物の状態評価
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【分析事例】酸化ガリウムGa2O3膜の不純物濃度評価
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【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析
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【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの評価
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【分析事例】高分子材料の添加剤評価
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【分析事例】有機膜材料の配向角評価
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【分析事例】燃料電池触媒PtRuの組成評価・形態観察
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【分析事例】低温フォトルミネッセンス測定の注意事項
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【分析事例】極低加速電圧条件での微細構造観察
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【分析事例】ポリカーボネート表面の劣化評価
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【分析事例】微細トランジスタの構造評価
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【分析事例】透過EBSD法による30nm以下の結晶粒解析
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【分析事例】加工食品中エマルションのクライオFIB-SEM観察
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【分析事例】有機ELディスプレイの総合評価
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【分析事例】GaN系デバイスの発光・発熱解析
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【分析事例】三次元SEMによる活物質体積の数値評価
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【分析事例】冷却下での肉組織の形状観察
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【分析事例】高分子フィルムの多層構造の解析
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【分析事例】NPT-IGBT中ドーパント調査
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【分析事例】SiC Schottky Barrier Diodeのフォトルミネッセンスマッピング測定
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【分析事例】リチウムイオン二次電池 セパレータの評価
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【分析事例】リチウムイオン二次電池 電極材料の評価
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