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一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
アールエムテック株式会社
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【分析事例】GCIB(Arクラスター)を用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析
一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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GCIB(ガスクラスターイオンビーム)装置
アールエムテック株式会社
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【分析事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布評価_C0234
一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】TOF-SIMSによるポリカーボネートの劣化層の評価_C0368
一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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アールエムテック サービス案内
アールエムテック株式会社
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[HAXPES]硬X線光電子分光法
一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析_C0242
一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】高分子表面のイオン照射による損傷層の評価
一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】有機EL材料(OLED)のTOF-SIMSによるRGB素子深さ方向分析
一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】高分子フィルム中の添加物成分分析
一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】高分子フィルムの多層構造の解析
一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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