• Luminex xMAP INTELLIFLEX System 製品画像

    Luminex xMAP INTELLIFLEX System

    PR【キャンペーン実施中】迅速でコストパフォーマンスに優れたイムノアッセイ…

    Luminex xMAP INTELLIFLEX Systemは、コンパクトで広いダイナミックレンジを実現します。タッチスクリーンのユーザーインターフェースを備え、スタートアップ、シャットダウン、メンテナンスが自動化されているため使いやすく、メンテナンスも簡単。この他、2つのパラメーターで測定可能なDR-SEモデルをはじめ、Luminex 200 Instrument System、Luminex...

    • image_14.png
    • image_16.png
    • image_15.png

    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • 品質文書の課題14:記録用紙の発行/回収を管理したい 製品画像

    品質文書の課題14:記録用紙の発行/回収を管理したい

    PR【記録用紙発行(印刷)記録と回収記録を管理可能】文書管理クラウド『Pe…

    データインテグリティ規制において記録用紙の発行/回収管理が強く求められています。 具体的には、以下です。 1)発行した文書へ一意の識別子を割り当て、発行者、日時および発行部数を台帳に記録する 2)記録後、書き損じや未使用を含む全ての印刷物を回収管理する 上記のように、記録用紙を管理するのはかなりの手間がかかります。 Perma Documentでは、記録用紙の発行/回収管理が...

    • GxP用.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社野村総合研究所

  • 非接触移動度測定装置『LEI-1610シリーズ』 製品画像

    非接触移動度測定装置『LEI-1610シリーズ』

    様々な半導体キャリア輸送特性の測定が可能!マイウロウェーブ反射による非…

    ロウェーブ反射による非接触移動度測定 ■高周波デバイス特性のスタンダード測定装置 ■ホール効果による測定結果との高い相関性 ■マルチキャリア・モデリングオプション ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • エピ膜厚測定装置『EIR-2500』 製品画像

    エピ膜厚測定装置『EIR-2500』

    IR反射率測定ヘッドを使用可能!高スループットのエピ膜厚測定を実現した…

    長】 ■ウェハーサイズ:4~12インチ ■Si, SOI, SiC, SiGe, III Vなど ■FTIR機能 ■エピ膜厚を高精度測定 ■遷移領域の膜厚測定 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • ナノインデンター『IND-1000』 製品画像

    ナノインデンター『IND-1000』

    圧痕を直接観察することも可能!硬度、弾性率、耐摩耗性、耐傷性などの測定…

    mN~5N) ■高精度 自動XYZステージ ■AFM(オプション)に搭載可能 ■高品質ピエゾー拡張要素による発熱対策 ■定期校正作業不要 ■容易な圧子切り替え ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

1〜3 件 / 全 3 件
表示件数
60件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • 4校_0617_orionkikai_300_300_2045050.jpg

PR