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PRクロマトグラフィーの基礎を学びたい方、必見のウェビナーです！
- GC は理解しているけれど LC は苦手 - LC を使ってきたけれど GC は初心者 - LC と GC の原理や違いを知りたい方 「いまさら聞けない」が聞けるウェビナーです。2025 年の第一弾は食品分析にフォーカスします。 開催日│ PART 1 2025年1月23日（木）15:00-16:00 PART 2 2025年1月28日（火）15:00-16:00....
メーカー・取り扱い企業： アジレント・テクノロジー株式会社
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分析用ガスの除湿に『FORBLUEサンセップSWGシリーズ』
PRガス成分は失わず、水蒸気のみを除去できます。ガス分析のサンプルガスなど…
【主な特長】 ■水蒸気以外のガス成分を外に逃がさない 非多孔膜を使用しているため、ガス成分はそのままで除湿ができます。 ■取り付けが容易で電源不要 サンセップは電源を使用せず、配線不要です。防爆エリアでの使用も可能で、ノイズの発生もありません。 ■メンテナンス不要 機械的な可動部品や消耗品がないため、メンテナンスは不要です。 ■小型・軽量 さらに、取り付け姿勢に...
メーカー・取り扱い企業： ＡＧＣ株式会社 化学品カンパニー
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物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…
主な装置は「HR-TEM」「Ｑ-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【表面分析 X線光電子分光分析（ESCA・XPS）】 ○X線...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター
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当社のESCAはX線プローブ径を5μmまで絞れます！
『ESCA』は、X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能な X線光電子分光分析装置です。 X線を走査しながら照射することによって発生する二次電子像 （SXI：Scanning X-ray Image）により測定場所を特定して、局所的な 組成および化学結合状態の分析が...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター
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検出下限を1E16n/cm3に下げることが出来ました。SIMSによる分…
半導体材料開発には不純物分析が重要ですが、高感度で分析できる二次イオン 質量分析（SIMS）が適しています。 SIMS(アルバックファイ：ADEPT-1010)によって、シリコンへアルミニウムを イオン注入したサンプ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター
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SIMSによる、シリコンへ砒素をイオン注入した分析結果を紹介。
当ページでは、SIMS (アルバックファイ：ADEPT-1010)によって、シリコンへ 砒素をイオン注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 砒素（75As）はマトリックスであるシリコンと残留ガスである酸素あるいは 水素との複合分子（29Si30Si16O など）が干渉するため、質量分解能が 3190 必...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター
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SiC基板へアルミニウムをBOX 注入したサンプルを分析した結果を紹介…
SIMS(アルバックファイ：ADEPT-1010)によって、SiC基板へアルミニウムを BOX 注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 SiC 基板は絶縁性が高いため、1次イオンビームを試料表面に照射すると 電荷が蓄積するため正確な測定が出来ません。そこで 1次イオンビーム 照射部分に低速電子ビーム...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター
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化合物半導体系超格子サンプルを使用した深さ分解能測定の結果を掲載！
当事例集は、イオン注入、成膜・分析、研究・事業化マネジメントの サービスなどを提供している株式会社イオンテクノセンターの 深さ分解能測定の結果を掲載している事例集です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ：ADEPT...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター
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