• 試薬・培地・薬液・検体管理用 UHF帯RFIDタグ 製品画像

    試薬・培地・薬液・検体管理用 UHF帯RFIDタグ

    PRRFID無線技術の活用により、可視情報が霜や汚れ、滲みで見えない場合で…

    試薬・培地・薬液・検体管理用タグは、UHF帯RFIDラベルです。 液体・水分が多い内容物へ貼り付けても識別が可能で、取扱管理が厳格な薬液や試薬、取り違い許されない培地や検体の管理に使用されています。 [特徴] UHF帯無線技術のおいて液体・水分・容器素材に影響をうけずらい磁界通信を利用することで、下記の特徴があります。 ・確実な個体識別による、取り違いの防止。 ・100タグなどの一括...

    • 検体・生体管理システム用RFID画像.png

    メーカー・取り扱い企業: シーレックス株式会社

  • 3次元NMRを用いた多糖の分析 製品画像

    3次元NMRを用いた多糖の分析

    PRピークが重複する複雑な有機化合物の構造解析が可能です。

    NMRを用いた有機化合物の構造解析では、一般的に1次元NMR (1H-NMR・13C-NMR)のほかに1次元NMR のピーク同士の相関を確認できる2次元NMRを用いてピークを帰属することで化合物の構造を決定します。しかし、類似構造を多数含む糖類などの化合物では2次元NMRでもピークが重複するため解析が困難です。このような場合には3次元NMRが有効です。 本資料ではオリゴ糖をモデル化合物として、3...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【技術資料】分光エリプソメーター測定原理~偏光とは? ※資料進呈 製品画像

    技術資料】分光エリプソメーター測定原理~偏光とは? ※資料進呈

    偏光・エリプソメーター・ブリュースター角など!図やグラフと共に分かりや…

    当資料は、分光エリプソメーターの測定原理についてご紹介しています。 電場および磁場の振動方向が規則的な光のことをいう「偏光」をはじめ、 エリプソメーターの原理、光学干渉についてなどを掲載。 図やグラフと共に分かりやすくご紹介しているので、ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容(抜粋)】 ■偏光とは ■サンプル表面の変更 ■エリプソメーターとは ■エリプソメーターの原理 ■ブリ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催 製品画像

    回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催

    多層膜の膜厚・屈折率を非接触で高精度測定。本体の操作や解析作業が容易 …

    ※測定原理や測定例、解析プロセスを紹介した技術資料を進呈中。 「PDFダウンロード」よりご覧いただけます。 ※デモの実施も可能です。 【分光エリプソメトリーについて】 分光エリプソメトリーでは、全波長領域における測定データ(Δ,ψ)...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • トレンチ深さ測定装置 IR2100  製品画像

    トレンチ深さ測定装置 IR2100

    トレンチ深さ測定装置

    パワーデバイスのディープトレンチやTSV形状、DRAMのキャパシタートレンチの深さ、CD測定、リセス測定を非接触で測定。独自技術MBIR(Model Based Infrared)により高アスペクト比のトレンチの測定が可能。また、エピ膜のドープ濃度の縦方向プロファイルの測定にも対応。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 比抵抗測定器 製品画像

    比抵抗測定器

    渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵…

    比抵抗測定器 RT-1000は、ベストセラー機 RT-1000の後継機種となり、渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵抗を瞬時に測定いたします。(測定範囲: 0.001〜100 Ωcm)...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置 製品画像

    単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置

    単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置

    ライフタイム測定器 WT-2000PIは、e-PCD技術を使用し、パッシベーション処理なしの単結晶シリコンインゴット状態で少数キャリアライフタイムを測定します。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 高効率太陽電池開発用測定装置 PV-2000 製品画像

    高効率太陽電池開発用測定装置 PV-2000

    高効率太陽電池開発用測定装置

    PV-2000は、Semilab社とSDIの技術を結合した太陽電池開発用の総合測定装置です。 パシベーション層評価等の高効率太陽電池を開発するための様々なヘッドを搭載可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 光学式細孔率・細孔分布測定装置 製品画像

    光学式細孔率・細孔分布測定装置

    世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター)細孔…

    ■ 前処理が必要がなく、 20分/ポイントと従来型に比べて高速に測定が可能です。 ...【アプリケーション】 ・Low-k膜の細孔率測定 ・色素増感太陽電池のTiO2細孔率測定 ・細孔サイズ(0.5~65nm)、厚さ(50nm~5um)のサンプル 【特徴】 ・膜厚、屈折率、表面積、浸透率、ヤング率、CTE計測も測定可能 ・従来の方式に比べ、短時間での測定が可能(20分/point...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

1〜7 件 / 全 7 件
表示件数
45件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • 1216_ipros_300_300_2046613.jpg
  • 1204_ipros_300_300.jpg

PR