インターフェックス出展『ラベル検査装置』『バイアルびん検査装置』

PR検査能力は従来製品のままスリムになったラベル検査装置や、AI機能を搭載…

2024年6月26日（水）から始まる「インターフェックスジャパン」にて ドリンク製品などの高速ラインに対応する検査装置の中からラベル検査装置のデモ機を出展いたします。 併せて「凍結乾燥製剤（バイアルびん）検査」の試作機を展示いたします。 目視検査から自動検査への可能性をご覧ください。 【出展製品】 『新型 ラベル検査装置』 検査能力・機能は従来製品のまま、床スペースを約1/4まで小...

メーカー・取り扱い企業： 高嶋技研株式会社

医療業界向け『産業用カメラ』※ホワイトペーパー無料進呈

PR高精度・高解像度で耐久性に優れ、診断装置や研究・開発装置などに活用可能…

当社は、医療技術とライフサイエンス分野において大きな役割を担う 『産業用カメラ』を提供しています。 正確で信頼性の高いイメージングが行え、診断や分析、検査・製造など 医療分野の様々な場面で活躍。約5,000の製品をラインアップしており、 様々なアプリケーションに適用できます。 【特長】 ■低照度でも鮮明な画質で画像処理が可能 ■厳しい環境下でも使用できる耐久性 ■Made ...

メーカー・取り扱い企業： アイ・ディー・エス株式会社

原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…

『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においても...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット！正確な原子間力顕微鏡をご紹…

『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000％向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX20』

故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール

、 かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社