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PRJIS分銅の製造から市場供給までの流れをご紹介。JIS規格の概要も解説
当社は、質量計測を主軸とし、天びん・分銅の製造や校正サービスを手掛けています。 100年以上にわたって蓄積したノウハウを元に、高度な技術が求められる 機械式はかりの組立や、1μgレベルの高精度な質量調整・校正が可能です。 本資料では、分銅の信頼性を担保する「JISマーク付き分銅」について紹介。 精度等級や特性評価基準などのほか、製造・検査工程などを紹介しています。 【掲載内容(一...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社村上衡器製作所
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PR箱詰め(搬送)工程のスピードアップ・無人化に!
検査薬キットの複数の異なるアイテムを、箱を搬送しながら箱詰めを 行います。箱の成型、箱詰め、蓋閉めまで。 ■ビジュアルトラッキング ■FAT/IQ/OQ/PQ ※詳細は[イプロス医薬食品サイト]・[特設サイト]よりお問い合わせください。 ※ものづくり・都市まちづくりサイトをご覧の方は、お手数ですが[特設サイト]よりカタログのダウンロードをお願いします。...※詳しくはPDF資料...
メーカー・取り扱い企業: ニイガタ機電株式会社 本社工場
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欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…
『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においても...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット!正確な原子間力顕微鏡をご紹…
『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000%向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール
、 かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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DRIFTCONSystem【リアルタイムPCR温度校正】
PCR・リアルタイムPCR装置の温度は正確に制御されていますか…
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