【2024年9月4日～6日】「JASIS 2024」出展のご案内

PR水分・滴定コーナー、食品関連コーナー、抵抗率コーナーなどの展示内容をご…

日東精工アナリテック株式会社は、幕張メッセにて開催される 「JASIS 2024」に出展いたします。 新製品の自動試料燃焼装置など各種分析装置を出展いたします。 展示会のご案内状はPDFよりダウンロードいただけます。 是非ご来場くださいますようお願い申し上げます。 【開催概要】 ■会場：幕張メッセ国際展示場 6ホール ■ブース番号：6B-202 ■会期：9月4日(水)～6日(金) 10：00...

メーカー・取り扱い企業： 日東精工アナリテック株式会社

高温の排水、そのまま排水にしていませんか？『排熱回収装置』

PR高温の排水を捨てる前に当製品に通すだけ！排水の熱を供給水に移して利用〈…

『排熱回収装置』は、排水が保有する熱量を給水加熱に利用することで、 給水加熱に要する燃料消費削減を目的とした装置です。 排水を伝熱パイプに滴下させるだけで良いため、ポンプ等の動力機器や 安全機器搭載の必要がありません。伝熱パイプに異物の付着しにくい 防汚処理を施しているため、伝熱性能が低下しにくいです。 また、本体の分解、組み立てもとても簡単な構造になっており丸ごと取り外しが可能なため、 伝熱...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ショウワ 本社、東京営業所、名古屋営業所、北陸営業所

赤外センサ評価装置

正確に！迅速に！自動に！

赤外線の基準光源である黒体炉に、チョッパ、オシロスコープ、FFTアナライザなどの計測機器を組合わせることにより、赤外線センサの性能評価を行えます。豊富な知識と経験に基づいた、最適なシステム選定・構築を行います。また、ソフトウェアを使用した測定の自動化が可能。自社開発（VC++、LabView）で、細かなところまでカスタマイズに対応。ぜひご相談ください。...赤外線の基準光源である黒体炉に、チョッパ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイ・アール・システム

分光放射計測装置　SR5000N

★Photonix 2014にてDEMO展示します★　軍事関係や研究機…

あらゆる物体から放射される可視光、および赤外線の絶対量を波長ごとに測定する装置です。 分光光度計とは異なり、あらゆる形状のもの、遠距離にあるもの、さまざまな対象物のスペクトル分析が可能です。 フィルタや検出器の組合わせにより、1.3～4.2μmと紫外から遠赤外まで、測定波...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイ・アール・システム

ハイパースペクトラル　イメージャ　SIシリーズ（分光器）

2次元画像の分光測定。可視～遠赤外までの豊富なバリエーション。屋外使用…

■0.4～12μm■ 屋外での使用が可能です。地上で測定する場合には、回転ステージに設置して装置をスキャンします。プッシュブルーム測定も可能なので、エアボーン用途に適しています。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイ・アール・システム

赤外線カメラ評価システム

豊富なラインナップ　特注可能

研究開発時の性能評価、製造時の品質検査や出荷検査、使用現場における作動確認など、赤外線カメラの性能試験には専用の装置が必要です。赤外線イメージを作り出すターゲット、ターゲットとの温度差を設定できる差温度黒体炉、無限遠からの赤外線を模擬するコリメータ、測定を自動で行うソフトウェア等をアイ・アール・システムでは豊富に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイ・アール・システム

MRIナビゲーショントラッキングシステム

MRIの強力な磁場の中でも、機材の位置を高精度にリアルタイムでモニタリ…

MRIナビゲーショントラッキングシステム EndoScoutは、核磁気共鳴装置の強力な磁場の中でも機材の位置を高精度にリアルタイムでモニタリングできます...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイ・アール・システム

超小型視程計(超小型霧センサ)

霧や吹雪による視程（水平方向の見通し）の悪化を数値化！ 視程悪化によ…

どれくらい先まで見通しがあるかという意味の「視程」を定量化出来るセンサーです。 霧、雨、雪による視程悪化を定量的に計測することが出来るので、 　視程障害による危険を発報 　道路上板などの光学装置の輝度調整 　LiDARなどの屋外で使用される光学機器の評価 に活用が進んでいます。 用途により様々なタイプをご用意しております。 　標準モデル：一般的な視程障害の計測（30秒毎に視程値...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイ・アール・システム

噴射分布　高速測定機器

スプレー・噴射物の飛散具合が画像として表示される！スプレーノズルの評価…

ノズルの設計を、高精度での評価が可能になります。 ◎測定精度の高精度化 　　粒体の表面における拡散によるレーザーの減衰を対置のセンサーで計 　　測することによって、従来のレーザー反射型計測装置の問題点であっ 　　た多重反射や散乱光の影響を無視できるようになりました。 ◎250μsecの高速測定 　　高分解能により、噴射・飛散の経時変化の計測が可能です。 ◎簡単設置・簡単ア...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイ・アール・システム