• LNPの製剤開発からGMP製造までをサポートする多彩なツール 製品画像

    LNPの製剤開発からGMP製造までをサポートする多彩なツール

    PR製剤条件のスクリーニングからスケールアップ、GMP製造までをシームレス…

    弊社のLNPツールは、合成から特性解析までにかかる様々な手間と時間を軽減し、製剤化を加速化します。 【LNP合成】 ・Sunシリーズ:処方・製造条件スクリーニングからスケールアップ、GMP対応製造まで、同じポンプとマイクロ流路チップを使用してシームレスに実行・移行可能です。  ・Sunscreen:スクリーニングのために開発された装置。96種類の条件検討を完全自動で実行。  ・Sunshine:...

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    メーカー・取り扱い企業: Unchained Labs株式会社

  • 微生物菌株タイピング IRバイオタイパー 製品画像

    微生物菌株タイピング IRバイオタイパー

    PR品質管理や汚染源特定のための迅速で簡便な菌株タイピング。結果まで約3時…

    IRバイオタイパーはフーリエ変換赤外(FT-IR)分光システムを利用した、迅速・簡便な菌株タイピング装置です。 採取した微生物分離株の定期的な菌株タイピングにより、微生物汚染を適切に監視でき積極的な根本原因の分析や洗浄プロセス管理の是正措置が促進できます。 【特長】 ■ 1検体あたり低コスト400円 程度  ■ 様々な微生物種(一般細菌・酵母など)で適用可能 ■ 簡単な手技で結果ま...

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    メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 ダルトニクス事業部 微生物同定・菌株識別

  • 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX20』 製品画像

    原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX20』

    故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール

    れるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わ...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』  製品画像

    原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』 

    最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡

    『Park NX10』は、サンプルのセッティングからイメージング、測定、 解析に至るまですべての段階において簡単に操作することができる 原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品なら、ユーザーはより多くの時間と、より優れたデータを基盤に 革新的な研究に集中することができ...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • 原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』 製品画像

    原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

    自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット!正確な原子間力顕微鏡をご紹…

    『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000%向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロフ...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • 原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』 製品画像

    原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

    欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…

    『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングスト...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-Hivac』 製品画像

    原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-Hivac』

    故障解析アプリケーションに適した真空環境スキャニング

    『Park NX-Hivac』は、故障解析および環境の影響を受けやすい材料向けの 高真空原子間力顕微鏡(AFM)です。 高濃度ドープの半導体の正確な故障解析が可能。 また、当社のすでに認められた技術を用いることによって、高分解...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

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