• 自動コロニーカウンター ※計測~レポート作成までを完全自動化! 製品画像

    自動コロニーカウンター ※計測~レポート作成までを完全自動化!

    PR豊富な計測事例!責任ある仕事に安心を!わずか数秒で正確に計測できる自動…

    自動計測コロニーカウンターは、設定領域面積中に存在するコロニー数を 一定の基準で自動計測する装置です。 導入することで安定性や効率性を大幅に向上させます。 食料の衛生評価・医薬品の評価・水質分析・化学品化粧品の安全評価など 多岐にわたる用途でご使用いただけます。 計測条件に合わせてカメラ設定だけでなく、上下照明のオンオフや 背景色の切り替えを自動で行います。 それにより、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社写真化学 草津事業所

  • エクフロー社 液体用ディスポーザブル/シングルユース 流量センサ 製品画像

    エクフロー社 液体用ディスポーザブル/シングルユース 流量センサ

    PRPFAクランプシステム バイオテクノロジーや製薬プロセス用途 …

    様々な流量プロセスで小流量の測定に対応しています。特に、製薬、医学、バイオテクノロジーでの使い捨て・シングルユース用途に革新的なソリューションとなります。 その他詳細は資料請求もしくはカタログダウンロード下さい。...■タービン・チューブを簡単に交換できる ■高解像度の方形波信号出力 ■本体材質はPFAで耐食性に優れている ■不透明な液体の流量も計測可能 ■タービン・チューブを180℃ま...

    メーカー・取り扱い企業: エア・ウォーター・メカトロニクス株式会社 ST事業部

  • 白色干渉計測法 製品画像

    白色干渉計測

    非接触・非破壊で3次元測定可能

    白色干渉計測法は、高輝度白色光源を用いて試料表面を「広視野・高垂直分解能・広ダイナミックレンジ」で非接触(非破壊)三次元測定が可能な装置です。 ・高輝度白色光源を用いた表面形状測定装置 ・非接触・非破壊...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法 製品画像

    [SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法

    ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

    SSRMは、バイアスが印加された試料の表面を導電性探針で走査し、抵抗値の分布を二次元的に計測することで探針直下の広がり抵抗を可視化する手法です。 シリコン半導体素子を計測した場合、空間分解能に依存しますが、キャリア濃度1016個/cm3以上に感度があります。 ・ナノメートルレベルで...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM) 製品画像

    [TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)

    EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギ…

    EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。EDS: Energy Dispersive X-ray Spectroscopyとも呼ばれます。 多くの場合、SEMまたはTEMに付属しており、本資料ではT...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 走査型マイクロ波顕微鏡法_SMM 製品画像

    走査型マイクロ波顕微鏡法_SMM

    Scanning Microwave Microscopy

    SMM は、導電性プローブを用いて計測試料を走査し、その凹凸形状を観察します。同時に、マイクロ波を探針から試料に照射して、その反射応答を計測することで、特に半導体の場合にはキャリア濃度に相関した信号を得ることができる手法です。SMM 信...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [AFM]原子間力顕微鏡法 製品画像

    [AFM]原子間力顕微鏡法

    ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

    AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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