ウェビナーのご案内│LC と GC の基礎 ～ 食品分析編

PRクロマトグラフィーの基礎を学びたい方、必見のウェビナーです！

- GC は理解しているけれど LC は苦手 - LC を使ってきたけれど GC は初心者 - LC と GC の原理や違いを知りたい方 「いまさら聞けない」が聞けるウェビナーです。2025 年の第一弾は食品分析にフォーカスします。 開催日│ PART 1 2025年1月23日（木）15:00-16:00 PART 2 2025年1月28日（火）15:00-16:00....

メーカー・取り扱い企業： アジレント・テクノロジー株式会社

珪藻土が要らない高精度濾紙

PR作業環境、作業効率を大きく改善、珪藻土による吸着効果を付加した機能紙で…

研究開発・製造で活躍する濾紙・濾過器を豊富に取り揃える弊社では、 濾材に珪藻土とセルロースを使用した『濾過板』を取り扱っています。 除粒子、除菌濾過、パイロジェン除去などに対応した高い吸着効果と 内部捕捉効果が特長で、「NA標準タイプ」をはじめ、不純物の含有が少ない 「NRPタイプ」、長寿命な「NAロングライフタイプ」などをラインアップ。 オートクレーブ滅菌、温水殺菌、薬剤殺菌にも対応可能です。...

メーカー・取り扱い企業： アドバンテック東洋株式会社

原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット！正確な原子間力顕微鏡をご紹…

『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000％向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。 【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…

『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングスト...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社